Análisis de componentes principales aplicado en espectroscopia de emisión K de alta resolución

• Autores: Pasquevich, Ian Luis
• Año de publicación: 2019
• Idioma: español castellano
• Tipo de recurso: tesis de grado
• Colaborador/a o director/a de tesis: Tirao, Germán Alfredo
• Materia: Espectroscopia de alta resolución; Entorno químico; Estado de oxidación; Análisis multivariado; Análisis KB; Multilinear algebra; X-ray spectra; Line shapes, widths and shifts
• Institución: Universidad Nacional de Córdoba

Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2019.
Fil: Pasquevich, Ian Luis. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación; Argentina.
La espectroscopia de emisión de rayos X (XES) es una herramienta muy importante para el análisis elemental de una muestra y para estudiar la estructura atómica de los átomos, actualmente se ha convertido además en una técnica poderosa para estudiar el entorno químico de los compuestos. En este trabajo se analizaron los espectros de alta resolución de unas perovskitas de 1−0,50,53 con x=0;0.1;0.2;…;1 dado el actual interés en estudiar las propiedades magnéticas de perovskitas dopadas con cationes de metales de transición. Para realizar este análisis se aplicaron tanto técnicas experimentales (DRX, XPS) como métodos de análisis multivariado (análisis de componentes principales, análisis de correspondencias múltiples y análisis de conglomerados).
X-ray emission spectroscopy (XES) is a very important tool for the elementary analysis of a sample and to study the atomic structure of atoms, nowadays it has also become a powerful technique to study the chemical environment of the compounds. In this work, the high-resolution spectra of perovskites of 1 −0.50.53 with x = 0; 0.1; 0.2; ...; 1 were analyzed given the current interest in studying the magnetic properties of perovskites doped with metal cations of Transition. To perform this analysis, both experimental techniques (DRX, XPS) and multivariate analysis methods (principal component analysis, multiple correspondence analysis and cluster analysis) were applied.
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Fil: Pasquevich, Ian Luis. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación; Argentina.