Manganite based memristors: Influence of the electroforming polarity on the electrical behavior and radiation hardness

Autores
Rubi, Diego; Kalstein, Ariel; Roman Acevedo, Wilson Stibens; Ghenzi, Néstor; Quinteros, Cynthia Paula; Mangano, E.; Granell, Pablo Nicolás; Golmar, Federico; Marlasca, F. G.; Suarez, Sergio Gabriel; Bernardi, Guillermo Carlos; Albornoz, C.; Leyva de Guglielmino, Ana Gabriela; Levy, Pablo Eduardo
Año de publicación
2015
Idioma
inglés
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
We report on the fabrication and characterization of La2/3Ca1/3MnO3 manganite-based memristive devices. Polycrystalline manganite thin films were grown by Pulsed Laser Deposition, while metallic electrodes were deposited by sputtering. We show that, depending on the polarity of the initial electroforming, both clockwise and anti-clockwise current-voltage curves can be obtained. We attribute this behavior to the coexistence of different resistive switchingmechanisms.We finally evaluate the electrical behavior of our devices after irradiation with high energy oxygen ions. We find no significant difference in the dielectric breakdown voltages between irradiated and non-irradiated devices, indicating that they may present radiation hardness and could be therefore appropriate for space or nuclear applications.
Fil: Rubi, Diego. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Kalstein, Ariel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Roman Acevedo, Wilson Stibens. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Ghenzi, Néstor. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Quinteros, Cynthia Paula. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Mangano, E.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Micro y Nanoelectrónica del Bicentenario. Unidad Técnica de Micro y Nano Sistemas; Argentina
Fil: Granell, Pablo Nicolás. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Micro y Nanoelectrónica del Bicentenario. Unidad Técnica de Micro y Nano Sistemas; Argentina
Fil: Golmar, Federico. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Micro y Nanoelectrónica del Bicentenario. Unidad Técnica de Micro y Nano Sistemas; Argentina
Fil: Marlasca, F. G.. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Suarez, Sergio Gabriel. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Bernardi, Guillermo Carlos. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Albornoz, C.. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Leyva de Guglielmino, Ana Gabriela. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Fil: Levy, Pablo Eduardo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Área Investigaciones y Aplicaciones no Nucleares; Argentina
Materia
Oxide Thin Films
Radiation Hardness
Resistive Random Access Memory
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
Repositorio
CONICET Digital (CONICET)
Institución
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
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