Building memristive and radiation hardness TiO2-based junctions

Autores
Ghenzi, Néstor; Rubi, Diego; Mangano, E.; Gimenez, G.; Lell, Julián Alejandro; Zelcer, Andrés; Stoliar, Pablo Alberto; Levy, Pablo Eduardo
Año de publicación
2013
Idioma
inglés
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
We study micro-scale TiO2 junctions that are suitable to be used as resistive random-access memory nonvolatile devices with radiation hardness memristive properties. The fabrication and structural and electrical characterization of the junctions are presented. We obtained a retentivity of 105 s, an endurance of 104 cycles and reliable switching with short electrical pulses (time-width below 10 ns). Additionally, the devices were exposed to 25 MeV oxygen ions. Then, we performed electrical measurements comparing pristine and irradiated devices in order to check the feasibility of using these junctions as memory elements with memristive and radiation hardness properties.
Fil: Ghenzi, Néstor. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Rubi, Diego. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Mangano, E.. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia Química. CAC; Argentina
Fil: Gimenez, G.. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia Química. CAC; Argentina
Fil: Lell, Julián Alejandro. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Fil: Zelcer, Andrés. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia Química. CAC; Argentina
Fil: Stoliar, Pablo Alberto. Universidad Nacional de San Martín. Escuela de Ciencia y Tecnología; Argentina. Universite de Nantes; Francia. Centre National de la Recherche Scientifique; Francia
Fil: Levy, Pablo Eduardo. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia Química. CAC; Argentina
Materia
Radiation Hardness
Resistive Switching
Memristive
Nnon Volatile Memories
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
Repositorio
CONICET Digital (CONICET)
Institución
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
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