Calidad cristalina del CdZnTe

Autores
Gilabert, Ulises Eduardo; Trigubó, A. B.; Walsöe de Reca, N. E.
Año de publicación
1993
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
Se han empleado distintos reactivos para la obtención de figuras de corrosión por ataque químico y para hallar, en consecuencia, la densidad de dislocaciones y la desorientación entre subgranos contiguos en sustratos de CdZnTe, caras (111)ᴄԁ y (111)Tₑ. Estos sustratos se emplean para el crecimiento epitaxial de Hg₁₋ₓ Cdₓ Te (MCT) (x ≅ 0,2), el cual constituye un excelente detector de infrarrojos. Se presentan y comparan los resultados micrográficos obtenidos con los diferentes reactivos
Different reagents were employed to obtain etch pits to evaluate by chemical etching the dislocation density and the misorientation between adjacent subgrains on single crystalline CdZnTe (111)ᴄԁ and (111)Tₑ faces. These substrates are employed to grow Hg₁₋ₓ Cdₓ Te (MCT) (x ≅0,2) by vapor phase epitaxy (VPE). Micrographic results, which were obtained with the different reagents, are presented and compared among them
Fil: Gilabert, Ulises Eduardo. Centro de Investigaciones en Sólidos (CINSO-CITEFA-CONICET). Buenos Aires. Argentina
Fil: Trigubó, A. B.. Centro de Investigaciones en Sólidos (CINSO-CITEFA-CONICET). Buenos Aires. Argentina
Fil: Walsöe de Reca, N. E.. Centro de Investigaciones en Sólidos (CINSO-CITEFA-CONICET). Buenos Aires. Argentina
Fuente
An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 1993;01(05):283-285
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
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