Películas delgadas de semiconductores en medios acuosos

Autores
Alcober, Carlos Santiago
Año de publicación
1999
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
tesis doctoral
Estado
versión publicada
Colaborador/a o director/a de tesis
Aldabe Bilmes, Sara Alfonsina
Descripción
En este trabajo se determinan las propiedades electrónicas de películas delgadasde CdS en contacto con un electrolito acuoso, para lo cual se desarrolló la técnica de conductancia superficial in-situ y se demostró su aplicabilidad para el estudio de otraspelículas semiconductoras. Se desarrolló un modelo que describe la interfaz semiconductor policristalino /electrolito teniendo en cuenta explícitamente la presencia de barreras intergrano. Estemodelo describe la interfaz de las películas delgadas de CdS y fue aplicado para lainterpretación de los resultados experimentales. A partir de los datos de espectroscopía de impedancia electroquímica, transmitancia modulada y conductancia superficial, se determinó el potencial de bandaplana, la densidad de portadores libres, la altura de barreras intergranos y su dependencia con el potencial.
In this work, the electronic properties of thin CdS films in contact whit anaqueous electrolyte are determined. For this purpose, in-situ surface conductance wasdeveloped and its usefulness shown for other thin semiconductor films. A microscopicmodel that takes explicitly into account intergrain barriers in the electronic properties of CdS films in contact with an electrolyte was developed, and used in the interpretation ofthe experimental results. Using electrochemical impedance spectroscopy, modulated transmittance andsurface conductance, the flat band potential, free electron density and intergrain barrierheights and its dependence on potential were determined.
Fil: Alcober, Carlos Santiago. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina.
Materia
CONDUCTANCIA SUPERFICIAL
PELICULAS DELGADAS
INTERFAZ SEMICONDUCTOR/ELECTROLITO
CDS
SURFACE CONDUCTANCE
POLYCRISTALLINE SEMICONDUCTORS
SEMICONDUCTOR/ELECTROLYTE INTERFACE
THIN FILMS
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
OAI Identificador
tesis:tesis_n3170_Alcober
Acceder
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Fil: Alcober, Carlos Santiago. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina.
description En este trabajo se determinan las propiedades electrónicas de películas delgadasde CdS en contacto con un electrolito acuoso, para lo cual se desarrolló la técnica de conductancia superficial in-situ y se demostró su aplicabilidad para el estudio de otraspelículas semiconductoras. Se desarrolló un modelo que describe la interfaz semiconductor policristalino /electrolito teniendo en cuenta explícitamente la presencia de barreras intergrano. Estemodelo describe la interfaz de las películas delgadas de CdS y fue aplicado para lainterpretación de los resultados experimentales. A partir de los datos de espectroscopía de impedancia electroquímica, transmitancia modulada y conductancia superficial, se determinó el potencial de bandaplana, la densidad de portadores libres, la altura de barreras intergranos y su dependencia con el potencial.
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