Películas delgadas de semiconductores en medios acuosos - Alcober, Carlos Santiago (1999)
En este trabajo se determinan las propiedades electrónicas de películas delgadasde CdS en contacto con un electrolito acuoso, para lo cual se desarrolló la técnica de conductancia superficial in-situ y se demostró su aplicabilidad para el estudio de otraspelículas semiconductoras. Se desarrolló un modelo que describe la interfaz semiconductor policristalino /electrolito teniendo en cuenta explícitamente la presencia de barreras intergrano. Estemodelo describe la interfaz de las películas delgadas de CdS y fue aplicado para lainterpretación de los resultados experimentales. A partir de los datos de espectroscopía de impedancia electroquímica, transmitancia modulada y conductancia superficial, se determinó el potencial de bandaplana, la densidad de portadores libres, la altura de barreras intergranos y su dependencia con el potencial.