Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas

Autores
Toranzos, Víctor José; Ortiz, Guillermo Pablo; Koropecki, Roberto Román
Año de publicación
2010
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
En el presente trabajo se propone un método para la fabricación de películas nanoestructuradas de Ag por evaporación al vacío en el cual se mide en tiempo real su resistividad por unidad de espesor (p/c) durante el crecimiento de la misma. La incorporación de un comparador de resistencias permite un control del corte de evaporación con el cual se ha logrado repetibilidad en la producción de películas con p/c<10Ω y transmitancia media del 60 % en el espectro visible. Analizamos los efectos de la nanoestructura de las películas delgadas deAg sobre las propiedades electro-ópticas. Encontramos que la conductividad respecto al bulto puede ser menor a baja frecuencia, mientras que mayor en el rango óptico, debido a disipación de energía por la excitación de plasmones
In this paper we propose a method for making Ag nanostructured films by evaporation under vacuum and is measured in real time the resistivity per unit thickness (p/c) for the growth of the same. The incorporation of a resistance comparator provides control of evaporation cut and repeatability in the films production with p/c<10 Ω average transmittance 60 % in the visible spectrum. We analyze the Ag surfaces nanostructure effects for electro-optical properties. We found that the conductivity respect to bulk can be lower at low frequency, while larger in the optical range, due to energy dissipation by plasmonic excitation
Fil: Toranzos, Víctor José. Universidad Nacional del Nordeste - CONICET. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica (IMIT). Corrientes. Argentina
Fil: Ortiz, Guillermo Pablo. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
Fil: Koropecki, Roberto Román. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
Fuente
An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2010;02(22):37-41
Materia
PELICULAS DELGADAS
NANOESTRUCTURAS
CONDUCTIVIDAD
TRANSMITANCIA
THIN FILMS
NANOSTRUCTURES
CONDUCTIVITY
TRANSMITANCE
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
OAI Identificador
afa:afa_v22_n02_p037
Acceder
id BDUBAFCEN_70da8bb08b064733ec1fc5ed3d19c8b6
oai_identifier_str afa:afa_v22_n02_p037
network_acronym_str BDUBAFCEN
repository_id_str 1896
network_name_str Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
spelling Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicasToranzos, Víctor JoséOrtiz, Guillermo PabloKoropecki, Roberto RománPELICULAS DELGADASNANOESTRUCTURASCONDUCTIVIDADTRANSMITANCIATHIN FILMSNANOSTRUCTURESCONDUCTIVITYTRANSMITANCEEn el presente trabajo se propone un método para la fabricación de películas nanoestructuradas de Ag por evaporación al vacío en el cual se mide en tiempo real su resistividad por unidad de espesor (p/c) durante el crecimiento de la misma. La incorporación de un comparador de resistencias permite un control del corte de evaporación con el cual se ha logrado repetibilidad en la producción de películas con p/c<10Ω y transmitancia media del 60 % en el espectro visible. Analizamos los efectos de la nanoestructura de las películas delgadas deAg sobre las propiedades electro-ópticas. Encontramos que la conductividad respecto al bulto puede ser menor a baja frecuencia, mientras que mayor en el rango óptico, debido a disipación de energía por la excitación de plasmonesIn this paper we propose a method for making Ag nanostructured films by evaporation under vacuum and is measured in real time the resistivity per unit thickness (p/c) for the growth of the same. The incorporation of a resistance comparator provides control of evaporation cut and repeatability in the films production with p/c<10 Ω average transmittance 60 % in the visible spectrum. We analyze the Ag surfaces nanostructure effects for electro-optical properties. We found that the conductivity respect to bulk can be lower at low frequency, while larger in the optical range, due to energy dissipation by plasmonic excitationFil: Toranzos, Víctor José. Universidad Nacional del Nordeste - CONICET. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica (IMIT). Corrientes. ArgentinaFil: Ortiz, Guillermo Pablo. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. ArgentinaFil: Koropecki, Roberto Román. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. ArgentinaAsociación Física Argentina2010info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfhttps://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v22_n02_p037An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2010;02(22):37-41reponame:Biblioteca Digital (UBA-FCEN)instname:Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturalesinstacron:UBA-FCENspainfo:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar2025-09-04T09:43:37Zafa:afa_v22_n02_p037Institucionalhttps://digital.bl.fcen.uba.ar/Universidad públicaNo correspondehttps://digital.bl.fcen.uba.ar/cgi-bin/oaiserver.cgiana@bl.fcen.uba.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:18962025-09-04 09:43:38.275Biblioteca Digital (UBA-FCEN) - Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturalesfalse
dc.title.none.fl_str_mv Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
title Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
spellingShingle Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
Toranzos, Víctor José
PELICULAS DELGADAS
NANOESTRUCTURAS
CONDUCTIVIDAD
TRANSMITANCIA
THIN FILMS
NANOSTRUCTURES
CONDUCTIVITY
TRANSMITANCE
title_short Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
title_full Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
title_fullStr Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
title_full_unstemmed Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
title_sort Contactos eléctricos transparentes mediante nanoestructuración de películas metálicas
dc.creator.none.fl_str_mv Toranzos, Víctor José
Ortiz, Guillermo Pablo
Koropecki, Roberto Román
author Toranzos, Víctor José
author_facet Toranzos, Víctor José
Ortiz, Guillermo Pablo
Koropecki, Roberto Román
author_role author
author2 Ortiz, Guillermo Pablo
Koropecki, Roberto Román
author2_role author
author
dc.subject.none.fl_str_mv PELICULAS DELGADAS
NANOESTRUCTURAS
CONDUCTIVIDAD
TRANSMITANCIA
THIN FILMS
NANOSTRUCTURES
CONDUCTIVITY
TRANSMITANCE
topic PELICULAS DELGADAS
NANOESTRUCTURAS
CONDUCTIVIDAD
TRANSMITANCIA
THIN FILMS
NANOSTRUCTURES
CONDUCTIVITY
TRANSMITANCE
dc.description.none.fl_txt_mv En el presente trabajo se propone un método para la fabricación de películas nanoestructuradas de Ag por evaporación al vacío en el cual se mide en tiempo real su resistividad por unidad de espesor (p/c) durante el crecimiento de la misma. La incorporación de un comparador de resistencias permite un control del corte de evaporación con el cual se ha logrado repetibilidad en la producción de películas con p/c<10Ω y transmitancia media del 60 % en el espectro visible. Analizamos los efectos de la nanoestructura de las películas delgadas deAg sobre las propiedades electro-ópticas. Encontramos que la conductividad respecto al bulto puede ser menor a baja frecuencia, mientras que mayor en el rango óptico, debido a disipación de energía por la excitación de plasmones
In this paper we propose a method for making Ag nanostructured films by evaporation under vacuum and is measured in real time the resistivity per unit thickness (p/c) for the growth of the same. The incorporation of a resistance comparator provides control of evaporation cut and repeatability in the films production with p/c<10 Ω average transmittance 60 % in the visible spectrum. We analyze the Ag surfaces nanostructure effects for electro-optical properties. We found that the conductivity respect to bulk can be lower at low frequency, while larger in the optical range, due to energy dissipation by plasmonic excitation
Fil: Toranzos, Víctor José. Universidad Nacional del Nordeste - CONICET. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica (IMIT). Corrientes. Argentina
Fil: Ortiz, Guillermo Pablo. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
Fil: Koropecki, Roberto Román. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
description En el presente trabajo se propone un método para la fabricación de películas nanoestructuradas de Ag por evaporación al vacío en el cual se mide en tiempo real su resistividad por unidad de espesor (p/c) durante el crecimiento de la misma. La incorporación de un comparador de resistencias permite un control del corte de evaporación con el cual se ha logrado repetibilidad en la producción de películas con p/c<10Ω y transmitancia media del 60 % en el espectro visible. Analizamos los efectos de la nanoestructura de las películas delgadas deAg sobre las propiedades electro-ópticas. Encontramos que la conductividad respecto al bulto puede ser menor a baja frecuencia, mientras que mayor en el rango óptico, debido a disipación de energía por la excitación de plasmones
publishDate 2010
dc.date.none.fl_str_mv 2010
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
info:ar-repo/semantics/articulo
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v22_n02_p037
url https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v22_n02_p037
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
eu_rights_str_mv openAccess
rights_invalid_str_mv https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Asociación Física Argentina
publisher.none.fl_str_mv Asociación Física Argentina
dc.source.none.fl_str_mv An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2010;02(22):37-41
reponame:Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
instname:Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
instacron:UBA-FCEN
reponame_str Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
collection Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
instname_str Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
instacron_str UBA-FCEN
institution UBA-FCEN
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital (UBA-FCEN) - Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
repository.mail.fl_str_mv ana@bl.fcen.uba.ar
_version_ 1842340654611431424
score 12.623145

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