Degradación de estructuras SOI en ambientes hostiles

Autores
Lozano, A.; Palumbo, F.; Malatto, L.; Giménez, G.; Bonaparte, J.
Año de publicación
2017
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión aceptada
Descripción
Fil: Lozano, A. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Micro y Nanoelectrónica; Argentina
Fil: Palumbo, F. Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA); Argentina
Fil: Malatto, L. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Micro y Nanoelectrónica; Argentina
Fil: Giménez, G. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Micro y Nanoelectrónica; Argentina
Fil: Bonaparte, J. Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA); Argentina
Fuente
TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Materia
Degradación
Siliconas
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
De acuerdo con las condiciones establecidas por el art. 10 del "Reglamento Operativo para la Aplicación de la Ley Nº 26.899" (Res. 753 - E/2016 del Min. de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva), se permite la lectura, descarga e impresión de esta obra. Todos los demás derechos están reservados
Repositorio
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
Institución
Instituto Nacional de Tecnología Industrial
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