Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle

Autores
Etchepareborda, P.; Veiras, F.; Bianchetti, A.; Federico, A.; González, M. G.
Año de publicación
2019
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
Fil: Etchepareborda, P. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Electrónica e Informática; Argentina
Fil: Veiras, F. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería (FIUBA); Argentina
Fil: Bianchetti, A. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Electrónica e Informática; Argentina
Fil: Federico, A. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas (CONICET); Argentina
Fil: González, M. G. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería (FIUBA); Argentina
Fuente
Elektron, 3(1)
Materia
Mediciones
Nanometrología
Polímeros electroactivos
Materiales piezoeléctricos
Piezoelectricidad
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
Repositorio
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
Institución
Instituto Nacional de Tecnología Industrial
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