Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle

Autores
Etchepareborda, Pablo Gonzalo; Veiras, Francisco Ezequiel; Bianchetti, A.; Federico, A.; González, Martín Germán
Año de publicación
2019
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
En este trabajo se presenta un método óptico para la determinación directa del coeficiente piezoeléctrico de películas delgadas de material polimérico. Esto se logra a través de la medición de desplazamientos mecánicos nanométricos generados en el film cuando es excitado con señales eléctricas armónicas de baja frecuencia (0.5 Hz). El sistema está basado en la inteferometría temporal de patrones de speckle y en la recuperación de fase por descomposición en modos empíricos bivariada. El esquema experimental fue usado sobre una muestra de polifluoruro de vinilideno depositada sobre un substrato de vidrio que presenta condiciones de contorno similares a las que se encuentran en experiencias de caracterización de fluídos complejos por técnicas fotoacústicas. El valor medido concuerda con aquellos obtenidos por otros métodos y con el reportado por el fabricante.
In this work we present an optical method for the direct determination of the piezoelectric coefficient of polymeric thin films. This is achieved through the measurement of nanometric mechanical displacements generated in the film when it is excited by low frequency harmonic electrical signals (0.5 Hz). The system is based on the temporal speckle pattern interferometry technique and the recovery of phase by using a bivariate empirical mode decomposition framework. The experimental scheme was used on a sample of vinylidene polyfluoride deposited on a glass substrate. The sample presents similar conditions to those found in the characterization of complex fluids by photoacoustic techniques. The measured value agrees with those obtained by other methods and with the value reported by the manufacturer.
Fil: Etchepareborda, Pablo Gonzalo. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Veiras, Francisco Ezequiel. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Láser; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Bianchetti, A.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina
Fil: Federico, A.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina
Fil: González, Martín Germán. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Láser; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Materia
speckle
descomposición de modos empíricos bivariados
polímero piezoeléctrico
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
Repositorio
CONICET Digital (CONICET)
Institución
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
OAI Identificador
oai:ri.conicet.gov.ar:11336/129267
Acceder
id CONICETDig_0dc2a34a19379f8e72392ad29d3c006c
oai_identifier_str oai:ri.conicet.gov.ar:11336/129267
network_acronym_str CONICETDig
repository_id_str 3498
network_name_str CONICET Digital (CONICET)
spelling Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckleNanometric displacements measurement in piezoelectric polymers using bivariate empirical mode decomposition method in speckle patternsEtchepareborda, Pablo GonzaloVeiras, Francisco EzequielBianchetti, A.Federico, A.González, Martín Germánspeckledescomposición de modos empíricos bivariadospolímero piezoeléctricohttps://purl.org/becyt/ford/2.2https://purl.org/becyt/ford/2https://purl.org/becyt/ford/1.3https://purl.org/becyt/ford/1En este trabajo se presenta un método óptico para la determinación directa del coeficiente piezoeléctrico de películas delgadas de material polimérico. Esto se logra a través de la medición de desplazamientos mecánicos nanométricos generados en el film cuando es excitado con señales eléctricas armónicas de baja frecuencia (0.5 Hz). El sistema está basado en la inteferometría temporal de patrones de speckle y en la recuperación de fase por descomposición en modos empíricos bivariada. El esquema experimental fue usado sobre una muestra de polifluoruro de vinilideno depositada sobre un substrato de vidrio que presenta condiciones de contorno similares a las que se encuentran en experiencias de caracterización de fluídos complejos por técnicas fotoacústicas. El valor medido concuerda con aquellos obtenidos por otros métodos y con el reportado por el fabricante.In this work we present an optical method for the direct determination of the piezoelectric coefficient of polymeric thin films. This is achieved through the measurement of nanometric mechanical displacements generated in the film when it is excited by low frequency harmonic electrical signals (0.5 Hz). The system is based on the temporal speckle pattern interferometry technique and the recovery of phase by using a bivariate empirical mode decomposition framework. The experimental scheme was used on a sample of vinylidene polyfluoride deposited on a glass substrate. The sample presents similar conditions to those found in the characterization of complex fluids by photoacoustic techniques. The measured value agrees with those obtained by other methods and with the value reported by the manufacturer.Fil: Etchepareborda, Pablo Gonzalo. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; ArgentinaFil: Veiras, Francisco Ezequiel. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Láser; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; ArgentinaFil: Bianchetti, A.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; ArgentinaFil: Federico, A.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; ArgentinaFil: González, Martín Germán. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Láser; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; ArgentinaUniversidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería2019-06info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11336/129267Etchepareborda, Pablo Gonzalo; Veiras, Francisco Ezequiel; Bianchetti, A.; Federico, A.; González, Martín Germán; Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle; Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería; Elektron; 3; 1; 6-2019; 52-572525-0159CONICET DigitalCONICETspainfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://elektron.fi.uba.ar/index.php/elektron/article/view/76info:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/reponame:CONICET Digital (CONICET)instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas2025-10-15T14:55:47Zoai:ri.conicet.gov.ar:11336/129267instacron:CONICETInstitucionalhttp://ri.conicet.gov.ar/Organismo científico-tecnológicoNo correspondehttp://ri.conicet.gov.ar/oai/requestdasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:34982025-10-15 14:55:48.167CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicasfalse
dc.title.none.fl_str_mv Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
Nanometric displacements measurement in piezoelectric polymers using bivariate empirical mode decomposition method in speckle patterns
title Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
spellingShingle Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
Etchepareborda, Pablo Gonzalo
speckle
descomposición de modos empíricos bivariados
polímero piezoeléctrico
title_short Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
title_full Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
title_fullStr Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
title_full_unstemmed Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
title_sort Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle
dc.creator.none.fl_str_mv Etchepareborda, Pablo Gonzalo
Veiras, Francisco Ezequiel
Bianchetti, A.
Federico, A.
González, Martín Germán
author Etchepareborda, Pablo Gonzalo
author_facet Etchepareborda, Pablo Gonzalo
Veiras, Francisco Ezequiel
Bianchetti, A.
Federico, A.
González, Martín Germán
author_role author
author2 Veiras, Francisco Ezequiel
Bianchetti, A.
Federico, A.
González, Martín Germán
author2_role author
author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv speckle
descomposición de modos empíricos bivariados
polímero piezoeléctrico
topic speckle
descomposición de modos empíricos bivariados
polímero piezoeléctrico
purl_subject.fl_str_mv https://purl.org/becyt/ford/2.2
https://purl.org/becyt/ford/2
https://purl.org/becyt/ford/1.3
https://purl.org/becyt/ford/1
dc.description.none.fl_txt_mv En este trabajo se presenta un método óptico para la determinación directa del coeficiente piezoeléctrico de películas delgadas de material polimérico. Esto se logra a través de la medición de desplazamientos mecánicos nanométricos generados en el film cuando es excitado con señales eléctricas armónicas de baja frecuencia (0.5 Hz). El sistema está basado en la inteferometría temporal de patrones de speckle y en la recuperación de fase por descomposición en modos empíricos bivariada. El esquema experimental fue usado sobre una muestra de polifluoruro de vinilideno depositada sobre un substrato de vidrio que presenta condiciones de contorno similares a las que se encuentran en experiencias de caracterización de fluídos complejos por técnicas fotoacústicas. El valor medido concuerda con aquellos obtenidos por otros métodos y con el reportado por el fabricante.
In this work we present an optical method for the direct determination of the piezoelectric coefficient of polymeric thin films. This is achieved through the measurement of nanometric mechanical displacements generated in the film when it is excited by low frequency harmonic electrical signals (0.5 Hz). The system is based on the temporal speckle pattern interferometry technique and the recovery of phase by using a bivariate empirical mode decomposition framework. The experimental scheme was used on a sample of vinylidene polyfluoride deposited on a glass substrate. The sample presents similar conditions to those found in the characterization of complex fluids by photoacoustic techniques. The measured value agrees with those obtained by other methods and with the value reported by the manufacturer.
Fil: Etchepareborda, Pablo Gonzalo. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Veiras, Francisco Ezequiel. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Láser; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Bianchetti, A.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina
Fil: Federico, A.. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Centro de Electrónica e Informática; Argentina
Fil: González, Martín Germán. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física. Laboratorio de Láser; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
description En este trabajo se presenta un método óptico para la determinación directa del coeficiente piezoeléctrico de películas delgadas de material polimérico. Esto se logra a través de la medición de desplazamientos mecánicos nanométricos generados en el film cuando es excitado con señales eléctricas armónicas de baja frecuencia (0.5 Hz). El sistema está basado en la inteferometría temporal de patrones de speckle y en la recuperación de fase por descomposición en modos empíricos bivariada. El esquema experimental fue usado sobre una muestra de polifluoruro de vinilideno depositada sobre un substrato de vidrio que presenta condiciones de contorno similares a las que se encuentran en experiencias de caracterización de fluídos complejos por técnicas fotoacústicas. El valor medido concuerda con aquellos obtenidos por otros métodos y con el reportado por el fabricante.
publishDate 2019
dc.date.none.fl_str_mv 2019-06
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
info:ar-repo/semantics/articulo
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/11336/129267
Etchepareborda, Pablo Gonzalo; Veiras, Francisco Ezequiel; Bianchetti, A.; Federico, A.; González, Martín Germán; Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle; Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería; Elektron; 3; 1; 6-2019; 52-57
2525-0159
CONICET Digital
CONICET
url http://hdl.handle.net/11336/129267
identifier_str_mv Etchepareborda, Pablo Gonzalo; Veiras, Francisco Ezequiel; Bianchetti, A.; Federico, A.; González, Martín Germán; Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle; Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería; Elektron; 3; 1; 6-2019; 52-57
2525-0159
CONICET Digital
CONICET
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://elektron.fi.uba.ar/index.php/elektron/article/view/76
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
eu_rights_str_mv openAccess
rights_invalid_str_mv https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería
publisher.none.fl_str_mv Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería
dc.source.none.fl_str_mv reponame:CONICET Digital (CONICET)
instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
reponame_str CONICET Digital (CONICET)
collection CONICET Digital (CONICET)
instname_str Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
repository.name.fl_str_mv CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
repository.mail.fl_str_mv dasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.ar
_version_ 1846083093312569344
score 13.22299

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