Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres

Autores
Ponce, Miguel Adolfo; Ramirez, M. A.; Schipani, Federico; Joanni, E.; Tomba, Juan Pablo; Castro, Miriam Susana
Año de publicación
2014
Idioma
inglés
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
In this work n-type CaCu3Ti4O12(CCTO) thick films obtained by screen printing were studied. The role of the potential barrier characteristics(height and width) was considered in order to explain the electrical behavior. The electrical response was also analyzed considering the oxygenadsorption and subsequent diffusion into the grains at temperatures higher than 280◦C. Tunnel currents were also calculated taking into accountthe donor concentration values for films in vacuum atmosphere.
Fil: Ponce, Miguel Adolfo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
Fil: Ramirez, M. A.. Universidade Estadual Paulista; Brasil
Fil: Schipani, Federico. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
Fil: Joanni, E.. CTI Renato Archer; Brasil
Fil: Tomba, Juan Pablo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
Fil: Castro, Miriam Susana. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
Materia
Semiconductor
Conduction Mechanism
Cacu3ti4o12
Diffusion
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
Repositorio
CONICET Digital (CONICET)
Institución
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
OAI Identificador
oai:ri.conicet.gov.ar:11336/5864
Acceder
id CONICETDig_f4e9ef04f2355a643a6b3196f879b077
oai_identifier_str oai:ri.conicet.gov.ar:11336/5864
network_acronym_str CONICETDig
repository_id_str 3498
network_name_str CONICET Digital (CONICET)
spelling Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheresPonce, Miguel AdolfoRamirez, M. A.Schipani, FedericoJoanni, E.Tomba, Juan PabloCastro, Miriam SusanaSemiconductorConduction MechanismCacu3ti4o12Diffusionhttps://purl.org/becyt/ford/2.5https://purl.org/becyt/ford/2https://purl.org/becyt/ford/1.4https://purl.org/becyt/ford/1In this work n-type CaCu3Ti4O12(CCTO) thick films obtained by screen printing were studied. The role of the potential barrier characteristics(height and width) was considered in order to explain the electrical behavior. The electrical response was also analyzed considering the oxygenadsorption and subsequent diffusion into the grains at temperatures higher than 280◦C. Tunnel currents were also calculated taking into accountthe donor concentration values for films in vacuum atmosphere.Fil: Ponce, Miguel Adolfo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; ArgentinaFil: Ramirez, M. A.. Universidade Estadual Paulista; BrasilFil: Schipani, Federico. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; ArgentinaFil: Joanni, E.. CTI Renato Archer; BrasilFil: Tomba, Juan Pablo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; ArgentinaFil: Castro, Miriam Susana. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; ArgentinaElsevier2014-09-12info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11336/5864Ponce, Miguel Adolfo; Ramirez, M. A.; Schipani, Federico; Joanni, E.; Tomba, Juan Pablo; et al.; Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres; Elsevier; Journal of the European Ceramic Society; 35; 1; 12-9-2014; 153-1610955-2219enginfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.jeurceramsoc.2014.08.041info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0955221914004701info:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/reponame:CONICET Digital (CONICET)instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas2025-09-29T10:01:07Zoai:ri.conicet.gov.ar:11336/5864instacron:CONICETInstitucionalhttp://ri.conicet.gov.ar/Organismo científico-tecnológicoNo correspondehttp://ri.conicet.gov.ar/oai/requestdasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:34982025-09-29 10:01:07.987CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicasfalse
dc.title.none.fl_str_mv Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
title Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
spellingShingle Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
Ponce, Miguel Adolfo
Semiconductor
Conduction Mechanism
Cacu3ti4o12
Diffusion
title_short Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
title_full Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
title_fullStr Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
title_full_unstemmed Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
title_sort Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres
dc.creator.none.fl_str_mv Ponce, Miguel Adolfo
Ramirez, M. A.
Schipani, Federico
Joanni, E.
Tomba, Juan Pablo
Castro, Miriam Susana
author Ponce, Miguel Adolfo
author_facet Ponce, Miguel Adolfo
Ramirez, M. A.
Schipani, Federico
Joanni, E.
Tomba, Juan Pablo
Castro, Miriam Susana
author_role author
author2 Ramirez, M. A.
Schipani, Federico
Joanni, E.
Tomba, Juan Pablo
Castro, Miriam Susana
author2_role author
author
author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv Semiconductor
Conduction Mechanism
Cacu3ti4o12
Diffusion
topic Semiconductor
Conduction Mechanism
Cacu3ti4o12
Diffusion
purl_subject.fl_str_mv https://purl.org/becyt/ford/2.5
https://purl.org/becyt/ford/2
https://purl.org/becyt/ford/1.4
https://purl.org/becyt/ford/1
dc.description.none.fl_txt_mv In this work n-type CaCu3Ti4O12(CCTO) thick films obtained by screen printing were studied. The role of the potential barrier characteristics(height and width) was considered in order to explain the electrical behavior. The electrical response was also analyzed considering the oxygenadsorption and subsequent diffusion into the grains at temperatures higher than 280◦C. Tunnel currents were also calculated taking into accountthe donor concentration values for films in vacuum atmosphere.
Fil: Ponce, Miguel Adolfo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
Fil: Ramirez, M. A.. Universidade Estadual Paulista; Brasil
Fil: Schipani, Federico. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
Fil: Joanni, E.. CTI Renato Archer; Brasil
Fil: Tomba, Juan Pablo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
Fil: Castro, Miriam Susana. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Mar del Plata. Instituto de Investigación En Ciencia y Tecnología de Materiales (i); Argentina. Universidad Nacional de Mar del Plata. Facultad de Ingeniería; Argentina
description In this work n-type CaCu3Ti4O12(CCTO) thick films obtained by screen printing were studied. The role of the potential barrier characteristics(height and width) was considered in order to explain the electrical behavior. The electrical response was also analyzed considering the oxygenadsorption and subsequent diffusion into the grains at temperatures higher than 280◦C. Tunnel currents were also calculated taking into accountthe donor concentration values for films in vacuum atmosphere.
publishDate 2014
dc.date.none.fl_str_mv 2014-09-12
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
info:ar-repo/semantics/articulo
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/11336/5864
Ponce, Miguel Adolfo; Ramirez, M. A.; Schipani, Federico; Joanni, E.; Tomba, Juan Pablo; et al.; Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres; Elsevier; Journal of the European Ceramic Society; 35; 1; 12-9-2014; 153-161
0955-2219
url http://hdl.handle.net/11336/5864
identifier_str_mv Ponce, Miguel Adolfo; Ramirez, M. A.; Schipani, Federico; Joanni, E.; Tomba, Juan Pablo; et al.; Electrical behavior analysis of n-type CaCu3Ti4O12 thick films exposed to different atmospheres; Elsevier; Journal of the European Ceramic Society; 35; 1; 12-9-2014; 153-161
0955-2219
dc.language.none.fl_str_mv eng
language eng
dc.relation.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.jeurceramsoc.2014.08.041
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0955221914004701
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
eu_rights_str_mv openAccess
rights_invalid_str_mv https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
application/pdf
application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Elsevier
publisher.none.fl_str_mv Elsevier
dc.source.none.fl_str_mv reponame:CONICET Digital (CONICET)
instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
reponame_str CONICET Digital (CONICET)
collection CONICET Digital (CONICET)
instname_str Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
repository.name.fl_str_mv CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
repository.mail.fl_str_mv dasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.ar
_version_ 1844613801021800448
score 13.070432

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