Intercomparación en Mediciones Superficiales
- Autores
- Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel Horacio; Caselles, Juan Esteban; Mas, Carlos Ruben; Schurrer, Clemar Aldino
- Año de publicación
- 2019
- Idioma
- español castellano
- Tipo de recurso
- artículo
- Estado
- versión publicada
- Descripción
- La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición in-eludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metro-lógica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no son habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la intercomparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos.
Fil: Brambilla, Nancy. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Brusa, Daniel Horacio. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Caselles, Juan Esteban. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Mas, Carlos Ruben. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba; Argentina
Fil: Schurrer, Clemar Aldino. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina - Materia
-
MICROGEOMETRÍA
NANOGEOMETRÍA
RUGOSIDAD
MICROSCOPÍA - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
- Repositorio
- Institución
- Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
- OAI Identificador
- oai:ri.conicet.gov.ar:11336/128823
Ver los metadatos del registro completo
id |
CONICETDig_8d503f4dfc9847efe7703a12e372b198 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:ri.conicet.gov.ar:11336/128823 |
network_acronym_str |
CONICETDig |
repository_id_str |
3498 |
network_name_str |
CONICET Digital (CONICET) |
spelling |
Intercomparación en Mediciones SuperficialesBrambilla, NancyBrusa, Daniel HoracioCaselles, Juan EstebanMas, Carlos RubenSchurrer, Clemar AldinoMICROGEOMETRÍANANOGEOMETRÍARUGOSIDADMICROSCOPÍAhttps://purl.org/becyt/ford/2.3https://purl.org/becyt/ford/2La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición in-eludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metro-lógica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no son habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la intercomparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos.Fil: Brambilla, Nancy. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; ArgentinaFil: Brusa, Daniel Horacio. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; ArgentinaFil: Caselles, Juan Esteban. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; ArgentinaFil: Mas, Carlos Ruben. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba; ArgentinaFil: Schurrer, Clemar Aldino. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; ArgentinaUniversidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado2019-06info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11336/128823Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel Horacio; Caselles, Juan Esteban; Mas, Carlos Ruben; Schurrer, Clemar Aldino; Intercomparación en Mediciones Superficiales; Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado; Revista Tecnología y Ciencia; 35; 6-2019; 1-171666-6933CONICET DigitalCONICETspainfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.33414/rtyc.35.1-17.2019info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/281info:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/reponame:CONICET Digital (CONICET)instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas2025-09-03T10:06:11Zoai:ri.conicet.gov.ar:11336/128823instacron:CONICETInstitucionalhttp://ri.conicet.gov.ar/Organismo científico-tecnológicoNo correspondehttp://ri.conicet.gov.ar/oai/requestdasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:34982025-09-03 10:06:12.214CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicasfalse |
dc.title.none.fl_str_mv |
Intercomparación en Mediciones Superficiales |
title |
Intercomparación en Mediciones Superficiales |
spellingShingle |
Intercomparación en Mediciones Superficiales Brambilla, Nancy MICROGEOMETRÍA NANOGEOMETRÍA RUGOSIDAD MICROSCOPÍA |
title_short |
Intercomparación en Mediciones Superficiales |
title_full |
Intercomparación en Mediciones Superficiales |
title_fullStr |
Intercomparación en Mediciones Superficiales |
title_full_unstemmed |
Intercomparación en Mediciones Superficiales |
title_sort |
Intercomparación en Mediciones Superficiales |
dc.creator.none.fl_str_mv |
Brambilla, Nancy Brusa, Daniel Horacio Caselles, Juan Esteban Mas, Carlos Ruben Schurrer, Clemar Aldino |
author |
Brambilla, Nancy |
author_facet |
Brambilla, Nancy Brusa, Daniel Horacio Caselles, Juan Esteban Mas, Carlos Ruben Schurrer, Clemar Aldino |
author_role |
author |
author2 |
Brusa, Daniel Horacio Caselles, Juan Esteban Mas, Carlos Ruben Schurrer, Clemar Aldino |
author2_role |
author author author author |
dc.subject.none.fl_str_mv |
MICROGEOMETRÍA NANOGEOMETRÍA RUGOSIDAD MICROSCOPÍA |
topic |
MICROGEOMETRÍA NANOGEOMETRÍA RUGOSIDAD MICROSCOPÍA |
purl_subject.fl_str_mv |
https://purl.org/becyt/ford/2.3 https://purl.org/becyt/ford/2 |
dc.description.none.fl_txt_mv |
La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición in-eludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metro-lógica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no son habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la intercomparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos. Fil: Brambilla, Nancy. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina Fil: Brusa, Daniel Horacio. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina Fil: Caselles, Juan Esteban. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina Fil: Mas, Carlos Ruben. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba; Argentina Fil: Schurrer, Clemar Aldino. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina |
description |
La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición in-eludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metro-lógica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no son habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la intercomparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos. |
publishDate |
2019 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2019-06 |
dc.type.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 info:ar-repo/semantics/articulo |
format |
article |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.none.fl_str_mv |
http://hdl.handle.net/11336/128823 Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel Horacio; Caselles, Juan Esteban; Mas, Carlos Ruben; Schurrer, Clemar Aldino; Intercomparación en Mediciones Superficiales; Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado; Revista Tecnología y Ciencia; 35; 6-2019; 1-17 1666-6933 CONICET Digital CONICET |
url |
http://hdl.handle.net/11336/128823 |
identifier_str_mv |
Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel Horacio; Caselles, Juan Esteban; Mas, Carlos Ruben; Schurrer, Clemar Aldino; Intercomparación en Mediciones Superficiales; Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado; Revista Tecnología y Ciencia; 35; 6-2019; 1-17 1666-6933 CONICET Digital CONICET |
dc.language.none.fl_str_mv |
spa |
language |
spa |
dc.relation.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.33414/rtyc.35.1-17.2019 info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/281 |
dc.rights.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
rights_invalid_str_mv |
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf application/pdf application/pdf application/pdf |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado |
publisher.none.fl_str_mv |
Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:CONICET Digital (CONICET) instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
reponame_str |
CONICET Digital (CONICET) |
collection |
CONICET Digital (CONICET) |
instname_str |
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
repository.name.fl_str_mv |
CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
repository.mail.fl_str_mv |
dasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.ar |
_version_ |
1842269946257604608 |
score |
13.13397 |