Intercomparación en Mediciones Superficiales

Autores
Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel Horacio; Caselles, Juan Esteban; Mas, Carlos Ruben; Schurrer, Clemar Aldino
Año de publicación
2019
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición in-eludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metro-lógica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no son habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la intercomparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos.
Fil: Brambilla, Nancy. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Brusa, Daniel Horacio. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Caselles, Juan Esteban. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Mas, Carlos Ruben. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba; Argentina
Fil: Schurrer, Clemar Aldino. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Materia
MICROGEOMETRÍA
NANOGEOMETRÍA
RUGOSIDAD
MICROSCOPÍA
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
Repositorio
CONICET Digital (CONICET)
Institución
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
OAI Identificador
oai:ri.conicet.gov.ar:11336/128823

id CONICETDig_8d503f4dfc9847efe7703a12e372b198
oai_identifier_str oai:ri.conicet.gov.ar:11336/128823
network_acronym_str CONICETDig
repository_id_str 3498
network_name_str CONICET Digital (CONICET)
spelling Intercomparación en Mediciones SuperficialesBrambilla, NancyBrusa, Daniel HoracioCaselles, Juan EstebanMas, Carlos RubenSchurrer, Clemar AldinoMICROGEOMETRÍANANOGEOMETRÍARUGOSIDADMICROSCOPÍAhttps://purl.org/becyt/ford/2.3https://purl.org/becyt/ford/2La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición in-eludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metro-lógica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no son habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la intercomparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos.Fil: Brambilla, Nancy. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; ArgentinaFil: Brusa, Daniel Horacio. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; ArgentinaFil: Caselles, Juan Esteban. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; ArgentinaFil: Mas, Carlos Ruben. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba; ArgentinaFil: Schurrer, Clemar Aldino. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; ArgentinaUniversidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado2019-06info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11336/128823Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel Horacio; Caselles, Juan Esteban; Mas, Carlos Ruben; Schurrer, Clemar Aldino; Intercomparación en Mediciones Superficiales; Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado; Revista Tecnología y Ciencia; 35; 6-2019; 1-171666-6933CONICET DigitalCONICETspainfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.33414/rtyc.35.1-17.2019info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/281info:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/reponame:CONICET Digital (CONICET)instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas2025-09-03T10:06:11Zoai:ri.conicet.gov.ar:11336/128823instacron:CONICETInstitucionalhttp://ri.conicet.gov.ar/Organismo científico-tecnológicoNo correspondehttp://ri.conicet.gov.ar/oai/requestdasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:34982025-09-03 10:06:12.214CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicasfalse
dc.title.none.fl_str_mv Intercomparación en Mediciones Superficiales
title Intercomparación en Mediciones Superficiales
spellingShingle Intercomparación en Mediciones Superficiales
Brambilla, Nancy
MICROGEOMETRÍA
NANOGEOMETRÍA
RUGOSIDAD
MICROSCOPÍA
title_short Intercomparación en Mediciones Superficiales
title_full Intercomparación en Mediciones Superficiales
title_fullStr Intercomparación en Mediciones Superficiales
title_full_unstemmed Intercomparación en Mediciones Superficiales
title_sort Intercomparación en Mediciones Superficiales
dc.creator.none.fl_str_mv Brambilla, Nancy
Brusa, Daniel Horacio
Caselles, Juan Esteban
Mas, Carlos Ruben
Schurrer, Clemar Aldino
author Brambilla, Nancy
author_facet Brambilla, Nancy
Brusa, Daniel Horacio
Caselles, Juan Esteban
Mas, Carlos Ruben
Schurrer, Clemar Aldino
author_role author
author2 Brusa, Daniel Horacio
Caselles, Juan Esteban
Mas, Carlos Ruben
Schurrer, Clemar Aldino
author2_role author
author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv MICROGEOMETRÍA
NANOGEOMETRÍA
RUGOSIDAD
MICROSCOPÍA
topic MICROGEOMETRÍA
NANOGEOMETRÍA
RUGOSIDAD
MICROSCOPÍA
purl_subject.fl_str_mv https://purl.org/becyt/ford/2.3
https://purl.org/becyt/ford/2
dc.description.none.fl_txt_mv La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición in-eludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metro-lógica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no son habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la intercomparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos.
Fil: Brambilla, Nancy. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Brusa, Daniel Horacio. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Caselles, Juan Esteban. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
Fil: Mas, Carlos Ruben. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Córdoba. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Químicas. Centro de Investigaciones en Química Biológica de Córdoba; Argentina
Fil: Schurrer, Clemar Aldino. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba; Argentina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Córdoba. Centro de Investigación y Transferencia En Metrología; Argentina
description La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición in-eludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para mediciones de rugosidad en la industria. La confiabilidad metro-lógica (ISO 10012) presupone el uso de instrumentos calibrados, patrones trazables, procedimientos de medición validados y balances de incertidumbre. Estos requerimientos no son habituales en microscopía y representa una debilidad a subsanar. En este trabajo se presentan los resultados de la intercomparación de mediciones de textura superficial en patrones 2D y 3D con cuatro tipos de instrumentos: Rugosímetro, Microscopio Confocal, Microscopio de Fuerza Atómica y Microscopio Electrónico de Barrido. Las evaluaciones de conformidad (ISO 17043) mediante la comparación de los errores normalizados (En), que ponderan los efectos sistemáticos y sus incertidumbres, convalidan el uso de los microscopios como instrumentos metrológicos.
publishDate 2019
dc.date.none.fl_str_mv 2019-06
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
info:ar-repo/semantics/articulo
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/11336/128823
Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel Horacio; Caselles, Juan Esteban; Mas, Carlos Ruben; Schurrer, Clemar Aldino; Intercomparación en Mediciones Superficiales; Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado; Revista Tecnología y Ciencia; 35; 6-2019; 1-17
1666-6933
CONICET Digital
CONICET
url http://hdl.handle.net/11336/128823
identifier_str_mv Brambilla, Nancy; Brusa, Daniel Horacio; Caselles, Juan Esteban; Mas, Carlos Ruben; Schurrer, Clemar Aldino; Intercomparación en Mediciones Superficiales; Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado; Revista Tecnología y Ciencia; 35; 6-2019; 1-17
1666-6933
CONICET Digital
CONICET
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.33414/rtyc.35.1-17.2019
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/281
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
eu_rights_str_mv openAccess
rights_invalid_str_mv https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
application/pdf
application/pdf
application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado
publisher.none.fl_str_mv Universidad Tecnológica Nacional. Secretaría de Ciencia, Tecnología y Posgrado
dc.source.none.fl_str_mv reponame:CONICET Digital (CONICET)
instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
reponame_str CONICET Digital (CONICET)
collection CONICET Digital (CONICET)
instname_str Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
repository.name.fl_str_mv CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
repository.mail.fl_str_mv dasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.ar
_version_ 1842269946257604608
score 13.13397