Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport
- Autores
- D'elia, Raul Luis; Aguirre, Myriam H.; Heredia, Eduardo Armando; Di Stefano, María Cristina; Martínez, Ana M.; Tolley, Alfredo Juan; Núñez García, Javier Luis Mariano; Geraci, Adriano Esteban; Cabanillas, Edgardo Domingo; Canepa, Horacio Ricardo; Trigubo, Alicia Beatriz
- Año de publicación
- 2015
- Idioma
- inglés
- Tipo de recurso
- artículo
- Estado
- versión publicada
- Descripción
- Crystalline defects were studied in single crystalline ZnSe grown by chemical transport using I2 as gaseous carrier. Transmission electronic microscopy determined an excellent structural order in the micrometric and nanometric range. Larger material areas were studied by chemical etching using different reagents to determine average dislocations density and average adjacent subgrains misorientation. Comparable micrographic results of different reagents are shown. Characterization values of ZnSe commercial substrate grown by High Pressure Bridgman (HPB) have been compared to those that correspond to our grown material wafers. Characterization proved that the semiconductor crystalline quality in our wafers is appropriate for optical devices.
Fil: D'elia, Raul Luis. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina
Fil: Aguirre, Myriam H.. Universidad de Zaragoza; España
Fil: Heredia, Eduardo Armando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina
Fil: Di Stefano, María Cristina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires; Argentina
Fil: Martínez, Ana M.. Universidad Nacional de Misiones; Argentina
Fil: Tolley, Alfredo Juan. Comisión Nacional de Energía Atómica. Fundación José A. Balseiro; Argentina
Fil: Núñez García, Javier Luis Mariano. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina
Fil: Geraci, Adriano Esteban. Comisión Nacional de Energía Atómica. Fundación José A. Balseiro; Argentina
Fil: Cabanillas, Edgardo Domingo. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Constituyentes. Gerencia de Investigación y Aplicaciones; Argentina
Fil: Canepa, Horacio Ricardo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina
Fil: Trigubo, Alicia Beatriz. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina - Materia
-
Single Crystalline Znse
Ii-Vi Semiconductors
(I2) Chemical Transport
Chemical Etching - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
- Repositorio
- Institución
- Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
- OAI Identificador
- oai:ri.conicet.gov.ar:11336/44481
Ver los metadatos del registro completo
id |
CONICETDig_369db1cd7c68fc99de68160f68096523 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:ri.conicet.gov.ar:11336/44481 |
network_acronym_str |
CONICETDig |
repository_id_str |
3498 |
network_name_str |
CONICET Digital (CONICET) |
spelling |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase TransportD'elia, Raul LuisAguirre, Myriam H.Heredia, Eduardo ArmandoDi Stefano, María CristinaMartínez, Ana M.Tolley, Alfredo JuanNúñez García, Javier Luis MarianoGeraci, Adriano EstebanCabanillas, Edgardo DomingoCanepa, Horacio RicardoTrigubo, Alicia BeatrizSingle Crystalline ZnseIi-Vi Semiconductors(I2) Chemical TransportChemical Etchinghttps://purl.org/becyt/ford/2.5https://purl.org/becyt/ford/2Crystalline defects were studied in single crystalline ZnSe grown by chemical transport using I2 as gaseous carrier. Transmission electronic microscopy determined an excellent structural order in the micrometric and nanometric range. Larger material areas were studied by chemical etching using different reagents to determine average dislocations density and average adjacent subgrains misorientation. Comparable micrographic results of different reagents are shown. Characterization values of ZnSe commercial substrate grown by High Pressure Bridgman (HPB) have been compared to those that correspond to our grown material wafers. Characterization proved that the semiconductor crystalline quality in our wafers is appropriate for optical devices.Fil: D'elia, Raul Luis. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; ArgentinaFil: Aguirre, Myriam H.. Universidad de Zaragoza; EspañaFil: Heredia, Eduardo Armando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; ArgentinaFil: Di Stefano, María Cristina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires; ArgentinaFil: Martínez, Ana M.. Universidad Nacional de Misiones; ArgentinaFil: Tolley, Alfredo Juan. Comisión Nacional de Energía Atómica. Fundación José A. Balseiro; ArgentinaFil: Núñez García, Javier Luis Mariano. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; ArgentinaFil: Geraci, Adriano Esteban. Comisión Nacional de Energía Atómica. Fundación José A. Balseiro; ArgentinaFil: Cabanillas, Edgardo Domingo. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Constituyentes. Gerencia de Investigación y Aplicaciones; ArgentinaFil: Canepa, Horacio Ricardo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; ArgentinaFil: Trigubo, Alicia Beatriz. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; ArgentinaCosmos Scholars Publishing House2015-12info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11336/44481D'elia, Raul Luis; Aguirre, Myriam H.; Heredia, Eduardo Armando; Di Stefano, María Cristina; Martínez, Ana M.; et al.; Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport; Cosmos Scholars Publishing House; International Journal of Advanced Applied Physics Research; 2; 12-2015; 28-342408-977XCONICET DigitalCONICETenginfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.cosmosscholars.com/cs-ijaapr/48-abstracts/ijaapr/464-abstract-chemical-etching-and-tem-crystalline-quality-assessment-of-single-crystalline-znse-ingots-grown-by-i2-vapor-phase-transportinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.15379/2408-977X.2015.02.02.5info:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/reponame:CONICET Digital (CONICET)instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas2025-09-29T09:34:58Zoai:ri.conicet.gov.ar:11336/44481instacron:CONICETInstitucionalhttp://ri.conicet.gov.ar/Organismo científico-tecnológicoNo correspondehttp://ri.conicet.gov.ar/oai/requestdasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:34982025-09-29 09:34:58.254CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicasfalse |
dc.title.none.fl_str_mv |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport |
title |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport |
spellingShingle |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport D'elia, Raul Luis Single Crystalline Znse Ii-Vi Semiconductors (I2) Chemical Transport Chemical Etching |
title_short |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport |
title_full |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport |
title_fullStr |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport |
title_full_unstemmed |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport |
title_sort |
Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport |
dc.creator.none.fl_str_mv |
D'elia, Raul Luis Aguirre, Myriam H. Heredia, Eduardo Armando Di Stefano, María Cristina Martínez, Ana M. Tolley, Alfredo Juan Núñez García, Javier Luis Mariano Geraci, Adriano Esteban Cabanillas, Edgardo Domingo Canepa, Horacio Ricardo Trigubo, Alicia Beatriz |
author |
D'elia, Raul Luis |
author_facet |
D'elia, Raul Luis Aguirre, Myriam H. Heredia, Eduardo Armando Di Stefano, María Cristina Martínez, Ana M. Tolley, Alfredo Juan Núñez García, Javier Luis Mariano Geraci, Adriano Esteban Cabanillas, Edgardo Domingo Canepa, Horacio Ricardo Trigubo, Alicia Beatriz |
author_role |
author |
author2 |
Aguirre, Myriam H. Heredia, Eduardo Armando Di Stefano, María Cristina Martínez, Ana M. Tolley, Alfredo Juan Núñez García, Javier Luis Mariano Geraci, Adriano Esteban Cabanillas, Edgardo Domingo Canepa, Horacio Ricardo Trigubo, Alicia Beatriz |
author2_role |
author author author author author author author author author author |
dc.subject.none.fl_str_mv |
Single Crystalline Znse Ii-Vi Semiconductors (I2) Chemical Transport Chemical Etching |
topic |
Single Crystalline Znse Ii-Vi Semiconductors (I2) Chemical Transport Chemical Etching |
purl_subject.fl_str_mv |
https://purl.org/becyt/ford/2.5 https://purl.org/becyt/ford/2 |
dc.description.none.fl_txt_mv |
Crystalline defects were studied in single crystalline ZnSe grown by chemical transport using I2 as gaseous carrier. Transmission electronic microscopy determined an excellent structural order in the micrometric and nanometric range. Larger material areas were studied by chemical etching using different reagents to determine average dislocations density and average adjacent subgrains misorientation. Comparable micrographic results of different reagents are shown. Characterization values of ZnSe commercial substrate grown by High Pressure Bridgman (HPB) have been compared to those that correspond to our grown material wafers. Characterization proved that the semiconductor crystalline quality in our wafers is appropriate for optical devices. Fil: D'elia, Raul Luis. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina Fil: Aguirre, Myriam H.. Universidad de Zaragoza; España Fil: Heredia, Eduardo Armando. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina Fil: Di Stefano, María Cristina. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Buenos Aires; Argentina Fil: Martínez, Ana M.. Universidad Nacional de Misiones; Argentina Fil: Tolley, Alfredo Juan. Comisión Nacional de Energía Atómica. Fundación José A. Balseiro; Argentina Fil: Núñez García, Javier Luis Mariano. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina Fil: Geraci, Adriano Esteban. Comisión Nacional de Energía Atómica. Fundación José A. Balseiro; Argentina Fil: Cabanillas, Edgardo Domingo. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Constituyentes. Gerencia de Investigación y Aplicaciones; Argentina Fil: Canepa, Horacio Ricardo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina Fil: Trigubo, Alicia Beatriz. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa. Ministerio de Defensa. Unidad de Investigación y Desarrollo Estratégico para la Defensa; Argentina |
description |
Crystalline defects were studied in single crystalline ZnSe grown by chemical transport using I2 as gaseous carrier. Transmission electronic microscopy determined an excellent structural order in the micrometric and nanometric range. Larger material areas were studied by chemical etching using different reagents to determine average dislocations density and average adjacent subgrains misorientation. Comparable micrographic results of different reagents are shown. Characterization values of ZnSe commercial substrate grown by High Pressure Bridgman (HPB) have been compared to those that correspond to our grown material wafers. Characterization proved that the semiconductor crystalline quality in our wafers is appropriate for optical devices. |
publishDate |
2015 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2015-12 |
dc.type.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 info:ar-repo/semantics/articulo |
format |
article |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.none.fl_str_mv |
http://hdl.handle.net/11336/44481 D'elia, Raul Luis; Aguirre, Myriam H.; Heredia, Eduardo Armando; Di Stefano, María Cristina; Martínez, Ana M.; et al.; Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport; Cosmos Scholars Publishing House; International Journal of Advanced Applied Physics Research; 2; 12-2015; 28-34 2408-977X CONICET Digital CONICET |
url |
http://hdl.handle.net/11336/44481 |
identifier_str_mv |
D'elia, Raul Luis; Aguirre, Myriam H.; Heredia, Eduardo Armando; Di Stefano, María Cristina; Martínez, Ana M.; et al.; Chemical Etching and TEM Crystalline Quality Assessment of Single Crystalline ZnSe Ingots Grown by I2 Vapor Phase Transport; Cosmos Scholars Publishing House; International Journal of Advanced Applied Physics Research; 2; 12-2015; 28-34 2408-977X CONICET Digital CONICET |
dc.language.none.fl_str_mv |
eng |
language |
eng |
dc.relation.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://www.cosmosscholars.com/cs-ijaapr/48-abstracts/ijaapr/464-abstract-chemical-etching-and-tem-crystalline-quality-assessment-of-single-crystalline-znse-ingots-grown-by-i2-vapor-phase-transport info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.15379/2408-977X.2015.02.02.5 |
dc.rights.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
rights_invalid_str_mv |
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf application/pdf |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Cosmos Scholars Publishing House |
publisher.none.fl_str_mv |
Cosmos Scholars Publishing House |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:CONICET Digital (CONICET) instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
reponame_str |
CONICET Digital (CONICET) |
collection |
CONICET Digital (CONICET) |
instname_str |
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
repository.name.fl_str_mv |
CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
repository.mail.fl_str_mv |
dasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.ar |
_version_ |
1844613085233414144 |
score |
13.070432 |