A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition
- Autores
- Marchi, María Claudia; Aldabe, Sara Alfonsina; Ribeiro, C. T. M.; Ochoa, E. A.; Kleinke, M.; Alvarez, F.
- Año de publicación
- 2010
- Idioma
- inglés
- Tipo de recurso
- artículo
- Estado
- versión publicada
- Descripción
- A comprehensive study of nonstoichiometry titanium oxide thin films (TiO x , 0.3≤x≤2) prepared by ion beam deposition technique is reported. The physical properties of the material are studied by ultraviolet and x-ray photoelectron, Raman, and Fourier transform infrared spectroscopies, and atomic force microscopy. An abrupt transition from metallic characteristics to a wide gap semiconductor is observed in a very narrow range of oxygen variation. Concomitantly with this change the crystal structure and morphology suffer remarkable physical properties modifications. This transformation is ascribed to surface-volume energy minimization due to the influence of oxygen determining the size of the TiO 2 particles during coalescence.
Fil: Marchi, María Claudia. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Química Inorgánica, Analítica y Química Física; Argentina
Fil: Aldabe, Sara Alfonsina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Química Inorgánica, Analítica y Química Física; Argentina
Fil: Ribeiro, C. T. M.. Universidade de Sao Paulo; Brasil
Fil: Ochoa, E. A.. Universidade Estadual de Campinas; Brasil
Fil: Kleinke, M.. Universidade Estadual de Campinas; Brasil
Fil: Alvarez, F.. Universidade Estadual de Campinas; Brasil - Materia
-
Tio2
Thin Film
Ion Beam Deposition
Xps - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
- Repositorio
- Institución
- Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
- OAI Identificador
- oai:ri.conicet.gov.ar:11336/83872
Ver los metadatos del registro completo
id |
CONICETDig_0c4484d07ece2db65f33ee3a1ab2bd34 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:ri.conicet.gov.ar:11336/83872 |
network_acronym_str |
CONICETDig |
repository_id_str |
3498 |
network_name_str |
CONICET Digital (CONICET) |
spelling |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam depositionMarchi, María ClaudiaAldabe, Sara AlfonsinaRibeiro, C. T. M.Ochoa, E. A.Kleinke, M.Alvarez, F.Tio2Thin FilmIon Beam DepositionXpshttps://purl.org/becyt/ford/1.3https://purl.org/becyt/ford/1A comprehensive study of nonstoichiometry titanium oxide thin films (TiO x , 0.3≤x≤2) prepared by ion beam deposition technique is reported. The physical properties of the material are studied by ultraviolet and x-ray photoelectron, Raman, and Fourier transform infrared spectroscopies, and atomic force microscopy. An abrupt transition from metallic characteristics to a wide gap semiconductor is observed in a very narrow range of oxygen variation. Concomitantly with this change the crystal structure and morphology suffer remarkable physical properties modifications. This transformation is ascribed to surface-volume energy minimization due to the influence of oxygen determining the size of the TiO 2 particles during coalescence.Fil: Marchi, María Claudia. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Química Inorgánica, Analítica y Química Física; ArgentinaFil: Aldabe, Sara Alfonsina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Química Inorgánica, Analítica y Química Física; ArgentinaFil: Ribeiro, C. T. M.. Universidade de Sao Paulo; BrasilFil: Ochoa, E. A.. Universidade Estadual de Campinas; BrasilFil: Kleinke, M.. Universidade Estadual de Campinas; BrasilFil: Alvarez, F.. Universidade Estadual de Campinas; BrasilAmerican Institute of Physics2010-09info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11336/83872Marchi, María Claudia; Aldabe, Sara Alfonsina; Ribeiro, C. T. M.; Ochoa, E. A.; Kleinke, M.; et al.; A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition; American Institute of Physics; Journal of Applied Physics; 108; 6; 9-2010; 64912-649190021-8979CONICET DigitalCONICETenginfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1063/1.3481442info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.3481442info:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/reponame:CONICET Digital (CONICET)instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas2025-09-29T09:57:20Zoai:ri.conicet.gov.ar:11336/83872instacron:CONICETInstitucionalhttp://ri.conicet.gov.ar/Organismo científico-tecnológicoNo correspondehttp://ri.conicet.gov.ar/oai/requestdasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:34982025-09-29 09:57:21.107CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicasfalse |
dc.title.none.fl_str_mv |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition |
title |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition |
spellingShingle |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition Marchi, María Claudia Tio2 Thin Film Ion Beam Deposition Xps |
title_short |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition |
title_full |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition |
title_fullStr |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition |
title_full_unstemmed |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition |
title_sort |
A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition |
dc.creator.none.fl_str_mv |
Marchi, María Claudia Aldabe, Sara Alfonsina Ribeiro, C. T. M. Ochoa, E. A. Kleinke, M. Alvarez, F. |
author |
Marchi, María Claudia |
author_facet |
Marchi, María Claudia Aldabe, Sara Alfonsina Ribeiro, C. T. M. Ochoa, E. A. Kleinke, M. Alvarez, F. |
author_role |
author |
author2 |
Aldabe, Sara Alfonsina Ribeiro, C. T. M. Ochoa, E. A. Kleinke, M. Alvarez, F. |
author2_role |
author author author author author |
dc.subject.none.fl_str_mv |
Tio2 Thin Film Ion Beam Deposition Xps |
topic |
Tio2 Thin Film Ion Beam Deposition Xps |
purl_subject.fl_str_mv |
https://purl.org/becyt/ford/1.3 https://purl.org/becyt/ford/1 |
dc.description.none.fl_txt_mv |
A comprehensive study of nonstoichiometry titanium oxide thin films (TiO x , 0.3≤x≤2) prepared by ion beam deposition technique is reported. The physical properties of the material are studied by ultraviolet and x-ray photoelectron, Raman, and Fourier transform infrared spectroscopies, and atomic force microscopy. An abrupt transition from metallic characteristics to a wide gap semiconductor is observed in a very narrow range of oxygen variation. Concomitantly with this change the crystal structure and morphology suffer remarkable physical properties modifications. This transformation is ascribed to surface-volume energy minimization due to the influence of oxygen determining the size of the TiO 2 particles during coalescence. Fil: Marchi, María Claudia. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Química Inorgánica, Analítica y Química Física; Argentina Fil: Aldabe, Sara Alfonsina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Ciudad Universitaria. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Instituto de Química, Física de los Materiales, Medioambiente y Energía; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Departamento de Química Inorgánica, Analítica y Química Física; Argentina Fil: Ribeiro, C. T. M.. Universidade de Sao Paulo; Brasil Fil: Ochoa, E. A.. Universidade Estadual de Campinas; Brasil Fil: Kleinke, M.. Universidade Estadual de Campinas; Brasil Fil: Alvarez, F.. Universidade Estadual de Campinas; Brasil |
description |
A comprehensive study of nonstoichiometry titanium oxide thin films (TiO x , 0.3≤x≤2) prepared by ion beam deposition technique is reported. The physical properties of the material are studied by ultraviolet and x-ray photoelectron, Raman, and Fourier transform infrared spectroscopies, and atomic force microscopy. An abrupt transition from metallic characteristics to a wide gap semiconductor is observed in a very narrow range of oxygen variation. Concomitantly with this change the crystal structure and morphology suffer remarkable physical properties modifications. This transformation is ascribed to surface-volume energy minimization due to the influence of oxygen determining the size of the TiO 2 particles during coalescence. |
publishDate |
2010 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2010-09 |
dc.type.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 info:ar-repo/semantics/articulo |
format |
article |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.none.fl_str_mv |
http://hdl.handle.net/11336/83872 Marchi, María Claudia; Aldabe, Sara Alfonsina; Ribeiro, C. T. M.; Ochoa, E. A.; Kleinke, M.; et al.; A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition; American Institute of Physics; Journal of Applied Physics; 108; 6; 9-2010; 64912-64919 0021-8979 CONICET Digital CONICET |
url |
http://hdl.handle.net/11336/83872 |
identifier_str_mv |
Marchi, María Claudia; Aldabe, Sara Alfonsina; Ribeiro, C. T. M.; Ochoa, E. A.; Kleinke, M.; et al.; A comprehensive study of the influence of the stoichiometry on the physical properties of TiO x films prepared by ion beam deposition; American Institute of Physics; Journal of Applied Physics; 108; 6; 9-2010; 64912-64919 0021-8979 CONICET Digital CONICET |
dc.language.none.fl_str_mv |
eng |
language |
eng |
dc.relation.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1063/1.3481442 info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.3481442 |
dc.rights.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
rights_invalid_str_mv |
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf application/pdf application/pdf application/pdf |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
American Institute of Physics |
publisher.none.fl_str_mv |
American Institute of Physics |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:CONICET Digital (CONICET) instname:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
reponame_str |
CONICET Digital (CONICET) |
collection |
CONICET Digital (CONICET) |
instname_str |
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
repository.name.fl_str_mv |
CONICET Digital (CONICET) - Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas |
repository.mail.fl_str_mv |
dasensio@conicet.gov.ar; lcarlino@conicet.gov.ar |
_version_ |
1844613716047298560 |
score |
13.070432 |