Probabilidad de supervivencia en presencia de una trampa dinámica

Autores
Re, Miguel Angel; Budde, Carlos Esteban; Cáceres, Manuel Osvaldo
Año de publicación
1996
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
La Probabilidad de Supervivencia (SP) es una magnitud de esencial importancia en numerosos fenómenos físicos y químicos. En particular, en el modelo de Glarum para la relajación dieléctrica, esta cantidad interviene en el cálculo de la constante dieléctrica dependiente de la frecuencia. En esta comunicación se estudia la SP para una trampa dinámica en presencia de un conjunto de defectos móviles con concentración c. El proceso de difusión se realiza en una red unidimensional y la absorción de los defectos se produce cuando uno de los mismos se encuentra en la posición de la trampa y esta última está activada. La SP se calcula a partir de la Densidad de Probabilidad de Absorción (presentada en una comunicación anterior). En el modelo de Glarum esta absorción representa la relajación del dipolo eléctrico. Se muestra la SP para distintas dinámicas del proceso de activación-desactivación de la trampa y el correspondiente comportamiento asintótico para tiempos grandes y pequeños.
The Survival Probability (SP) is a very important magnitude in a great number of physical and chemical phenomena. In the Glarum model for dielectric relaxation, the SP is involved in the calculation of the frequency dependent dielectric permitivity. In this communication the SP for a dynamic trap in the presence of a random distribution of noninteracting movil defects with initial concentration c is calculated. The difussion process is assumed on a one-dimensional lattice and the absorption of a deffect is produced when it reaches the trap position and the trap is activated. We calculate the SP from the Absorption Probability Density (presented in a previous communication). In the Glarum model the absorption represents the dipole relaxation. It is showed the SP for different dynamics in the activation-desactivation process and the corresponding asymptotic behaviour is determined for long and short times
Fil: Re, Miguel Angel. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física (UNC-FaMAF). Córdoba. Argentina
Fil: Budde, Carlos Esteban. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física (UNC-FaMAF). Córdoba. Argentina
Fil: Cáceres, Manuel Osvaldo. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche. Instituto Balseiro (CNEA-CAB). Río Negro. Argentina
Fuente
An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 1996;01(08):47-50
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
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The Survival Probability (SP) is a very important magnitude in a great number of physical and chemical phenomena. In the Glarum model for dielectric relaxation, the SP is involved in the calculation of the frequency dependent dielectric permitivity. In this communication the SP for a dynamic trap in the presence of a random distribution of noninteracting movil defects with initial concentration c is calculated. The difussion process is assumed on a one-dimensional lattice and the absorption of a deffect is produced when it reaches the trap position and the trap is activated. We calculate the SP from the Absorption Probability Density (presented in a previous communication). In the Glarum model the absorption represents the dipole relaxation. It is showed the SP for different dynamics in the activation-desactivation process and the corresponding asymptotic behaviour is determined for long and short times
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