Modos de operación, reflectividad, topografía y microanálisis EDS acompañados de simulaciones: resolviendo desafíos en el Servicio de Microscopía Electrónica de Barrido del Centro...

Autores
Troyón, Paula; Corte, Manuel; Esquivel, Marcelo R.
Año de publicación
2022
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
En este trabajo, estudiamos los efectos de la interacción entre el haz de electrones que generan nuestros microscopios electrónicos de barrido y los distintos materiales y muestras recibidos, para poder describir los desafíos que plantea dicha interacción en forma de imagen y acompañado de un análisis de los resultados. Las imágenes y análisis presentados aquí fueron obtenidos en nuestros microscopios electrónicos de barrido FEI-INSPECT S50, y FEI NOVA NANO SEM 230. El primero es un SEM de emisión termoiónica dotado de detectores ETD, vCD, LFD y asociado a un detector EDS (EDAX) con una resolución nominal de 8 nm a 30 kV con modos de operación de alto y bajo vacío. El segundo es un SEM de emisión de campo dotado de detectores ETD, TLD, vCD, LFD, GAD, STEM y asociado a detectores EDS (EDAX) y EBSD (EDAX) con una resolución nominal de 1.6 nm a 15 kV. Este microscopio tiene modos de operación de alto y bajo vacío.
Asociación Argentina de Microscopía
Universidad Nacional de La Plata
Materia
Ciencias Exactas
microscopios electrónicos de barrido
haz de electrones
materiales
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
Repositorio
SEDICI (UNLP)
Institución
Universidad Nacional de La Plata
OAI Identificador
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