Servicio de microscopía electrónica de barrido y microanálisis del LIMF - Facultad de Ingeniería - UNLP
- Autores
- Kang, Kyung-Won; Echarri, Juan Manuel; Llorente, Carlos Luis
- Año de publicación
- 2013
- Idioma
- español castellano
- Tipo de recurso
- documento de conferencia
- Estado
- versión publicada
- Descripción
- El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio de microscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP, detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos. (Párrafo extraído del texto a modo de resumen)
Facultad de Ingeniería - Materia
-
Ingeniería
Ingeniería Mecánica
microscopio electrónico de barrido
espectroscopía dispersiva en energías - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/
- Repositorio
- Institución
- Universidad Nacional de La Plata
- OAI Identificador
- oai:sedici.unlp.edu.ar:10915/38238
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