Servicio de microscopía electrónica de barrido y microanálisis del LIMF - Facultad de Ingeniería - UNLP

Autores
Kang, Kyung-Won; Echarri, Juan Manuel; Llorente, Carlos Luis
Año de publicación
2013
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio de microscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP, detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos. (Párrafo extraído del texto a modo de resumen)
Facultad de Ingeniería
Materia
Ingeniería
Ingeniería Mecánica
microscopio electrónico de barrido
espectroscopía dispersiva en energías
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/
Repositorio
SEDICI (UNLP)
Institución
Universidad Nacional de La Plata
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