Servicio de microscopía electrónica de barrido y microanálisis del LIMF - Facultad de Ingeniería - UNLP
- Autores
- Kang, Kyung W.; Llorente, Carlos Luis; Echarri, Juan M.
- Año de publicación
- 2013
- Idioma
- español castellano
- Tipo de recurso
- documento de conferencia
- Estado
- versión publicada
- Descripción
- El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio demicroscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP,detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos.
- Materia
-
Ingeniería Mecánica
microscopio
Espectroscopía - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Repositorio
- Institución
- Comisión de Investigaciones Científicas de la Provincia de Buenos Aires
- OAI Identificador
- oai:digital.cic.gba.gob.ar:11746/2013
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