Servicio de microscopía electrónica de barrido y microanálisis del LIMF - Facultad de Ingeniería - UNLP

Autores
Kang, Kyung W.; Llorente, Carlos Luis; Echarri, Juan M.
Año de publicación
2013
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
El objetivo de este trabajo es la presentación y difusión de la capacidad del servicio demicroscopía electrónica de barrido que cuenta la Facultad de Ingeniería de la UNLP,detallando el potencial de los equipos y las posibilidades de uso de los mismos.
Materia
Ingeniería Mecánica
microscopio
Espectroscopía
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Repositorio
CIC Digital (CICBA)
Institución
Comisión de Investigaciones Científicas de la Provincia de Buenos Aires
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