Tecnología láser para la remoción de <i>smear layer</i> en el conducto radicular de incisivos centrales superiores
- Autores
- Cantarini, Luis Martín; Milat, Edith I.; Procacci, Mario; Etchegoyen, Liliana Margarita; García Gadda, Gustavo; García Gadda, Bernardo
- Año de publicación
- 2009
- Idioma
- español castellano
- Tipo de recurso
- documento de conferencia
- Estado
- versión publicada
- Descripción
- Actualmente hay innumerables metodos propuestos para realizar la instrumentación del conducto radicular entre ellos esta propuesto la utilización de Laser de Er:YAG. El objetivo del presente trabajo invitro, es estudiar la presencia de detritos en las paredes dentinarias de los conductos radiculares de incisivos centrales superiores. Poterior a la instrumentación con limas tipo K y laser de Er:YAG, se realizó el estudio al Microscopio Electronico de Barrido para determinar la presencia de los mismos.
Resumen publicado en Libro de resúmenes. Producción en Investigación, Docencia, Gestión, Extensión. Universidad Nacional de Rosario: Rosario, 2009.
Facultad de Odontología - Materia
-
Odontología
tecnología láser
smear layer
conductos radiculares
incisivo central superior - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
- Repositorio
- Institución
- Universidad Nacional de La Plata
- OAI Identificador
- oai:sedici.unlp.edu.ar:10915/75429
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Tecnología láser para la remoción de <i>smear layer</i> en el conducto radicular de incisivos centrales superioresCantarini, Luis MartínMilat, Edith I.Procacci, MarioEtchegoyen, Liliana MargaritaGarcía Gadda, GustavoGarcía Gadda, BernardoOdontologíatecnología lásersmear layerconductos radicularesincisivo central superiorActualmente hay innumerables metodos propuestos para realizar la instrumentación del conducto radicular entre ellos esta propuesto la utilización de Laser de Er:YAG. El objetivo del presente trabajo invitro, es estudiar la presencia de detritos en las paredes dentinarias de los conductos radiculares de incisivos centrales superiores. Poterior a la instrumentación con limas tipo K y laser de Er:YAG, se realizó el estudio al Microscopio Electronico de Barrido para determinar la presencia de los mismos.Resumen publicado en <i>Libro de resúmenes. Producción en Investigación, Docencia, Gestión, Extensión</i>. Universidad Nacional de Rosario: Rosario, 2009.Facultad de Odontología2009info:eu-repo/semantics/conferenceObjectinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionResumenhttp://purl.org/coar/resource_type/c_5794info:ar-repo/semantics/documentoDeConferenciaapplication/pdfhttp://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/75429spainfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/isbn/978-950-673-744-3info:eu-repo/semantics/openAccesshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International (CC BY-NC-ND 4.0)reponame:SEDICI (UNLP)instname:Universidad Nacional de La Platainstacron:UNLP2025-09-29T11:12:56Zoai:sedici.unlp.edu.ar:10915/75429Institucionalhttp://sedici.unlp.edu.ar/Universidad públicaNo correspondehttp://sedici.unlp.edu.ar/oai/snrdalira@sedici.unlp.edu.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:13292025-09-29 11:12:56.384SEDICI (UNLP) - Universidad Nacional de La Platafalse |
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