Aplicación de la microtomografía de rayos X para la caracterización microestructural de un hormigón semiaislante

Autores
Cipollone, Mariano; Epele, Bernarda; Rendtorff Birrer, Nicolás Maximiliano; Moyas, Ernesto; Conconi, María Susana; Scian, Alberto Néstor; Aglietti, Esteban Fausto
Año de publicación
2016
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
La microtomografía de rayos X (MTX) surge como una herramienta poderosa para abordar la caracterización microestructural y textural de materiales en general y de hormigones refractarios en particular. En este trabajo se compararon los resultados obtenidos mediante MTX de un hormigón gunitado semi-aislante comercial en verde y sinterizado y algunas caracterizaciones tecnológicas típicas (Arquímedes, intrusión de mercurio, DRX, SEM, MOR). Piezas prismáticas (25x25x25 mm3) cortadas de un bloque gunitado (70x70x15 cm3) fueron evaluadas. Previamente se describió la metodología típica para la caracterización de estos materiales. En el presente estudio se vio de manifiesto la potencialidad de la técnica para el: diseño, desarrollo, control de instalación y deterioro de este tipo de materiales. La técnica permitió, de manera sencilla y rápida, caracterizar la proporción, distribución y morfología de las distintas fases: chamotes, granos de ladrillo molido, y fase la ligante. También se pudo cuantificar la porosidad y observar su distribución y morfología en el volumen estudiado.
Centro de Tecnología de Recursos Minerales y Cerámica
Materia
Química
Hormigón
Microtomografía de rayos X
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
Repositorio
SEDICI (UNLP)
Institución
Universidad Nacional de La Plata
OAI Identificador
oai:sedici.unlp.edu.ar:10915/95057
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