Desarrollo de un peine de frecuencias ópticas para aplicaciones metrológicas

Autores
Yapur, F. G.; Luna, D.; Mingolla, G.
Año de publicación
2022
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión aceptada
Descripción
Fil: Yapur, F. G. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Dirección Operativa. Gerencia Operativa de Metrología y Calidad. Subgerencia Operativa de Metrología Científica e Industrial. Dirección Técnica de Metrología Física. Departamento de Óptica y Dimensional; INTI-GOMyC-SOMCeI
Fil: Luna, D. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Dirección Operativa. Gerencia Operativa de Metrología y Calidad. Subgerencia Operativa de Metrología Científica e Industrial. Dirección Técnica de Metrología Física. Departamento de Óptica y Dimensional; INTI-GOMyC-SOMCeI
Fil: Mingolla, G. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Dirección Operativa. Gerencia Operativa de Metrología y Calidad. Subgerencia Operativa de Metrología Científica e Industrial. Dirección Técnica de Metrología Física. Departamento de Óptica y Dimensional; INTI-GOMyC-SOMCeI
Fuente
TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14
Materia
Metrología física
Óptica
Microondas
Frecuencia
Metrología
Fibras ópticas
Trazabilidad
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
Repositorio
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
Institución
Instituto Nacional de Tecnología Industrial
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