Desarrollo de un peine de frecuencias ópticas para aplicaciones metrológicas - Yapur, F. G. (2022)
Fil: Yapur, F. G. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Dirección Operativa. Gerencia Operativa de Metrología y Calidad. Subgerencia Operativa de Metrología Científica e Industrial. Dirección Técnica de Metrología Física. Departamento de Óptica y Dimensional; INTI-GOMyC-SOMCeI