Método novedoso utilizando microscopía FIB para preparar lamellas de bajo módulo de Young

Autores
Patrone, L. A.
Año de publicación
2022
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión aceptada
Descripción
Fil: Patrone, L. A. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. Gerencia Operativa de Desarrollo Tecnológico e Innovación. Subgerencia Operativa de Áreas de Conocimiento. Dirección Técnica de Micro y Nano Tecnologías (INTI-GODTeI-SOAC); Argentina
Fuente
TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14
Materia
Microscopía electrónica
Láminas
Análisis elástico
Tensiones
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
Repositorio
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
Institución
Instituto Nacional de Tecnología Industrial
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