Difracción de rayos x y pigmentos arqueológicos: comparación de técnicas aplicadas sobre piezas enteras y estudios por microdifracción

Autores
Fuertes, Maria Cecilia; Palamarczuk, Valeria; Lamas, Diego Germán; Huck Itiart, Cristián
Año de publicación
2022
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
El estudio de pigmentos arqueológicos requiere de un abordaje que equilibre al menos cuatro aspectos: a) la obtención de datos confiables, precisos y replicables, b) la utilización de técnicas mínimamente o no destructivas, c) la optimización de costos y tiempo dedicado a la generación e interpretación de los datos y d) el respeto por las valoraciones sociales de los objetos de los cuales los pigmentos forman parte. En especial, cuando se plantea el análisis de cerámicas arqueológicas -que condensan valoraciones diversas en tanto objetos del patrimonio cultural, acervos de museos, elementos sagrados o imbuidos de espíritu-, se debe poner en consideración en cada caso la eficiencia, la posibilidad y la pertinencia de efectuar análisis in situ o de extraer muestras pequeñas. Tomando en cuenta estos aspectos, se diseñó una estrategia de comparación entre diferentes modos de instrumentación de la técnica de difracción de rayos X de polvos (DRX). DRX es la técnica por excelencia para identificar fases cristalinas. Se coteja su aplicación en tres configuraciones: DRX con geometría de Bragg-Brentano, DRX con incidencia rasante y micro-DRX. Se realizaron mediciones de pigmentos superpuestos de tonos rojo, negro y crema de dos fragmentos cerámicos de estilos San José y Santa María del valle de Yocavil, Catamarca, Argentina y se compararon los resultados. Las dos primeras configuraciones se realizaron utilizando un difractómetro Empyrean de Malvern Panalytical, con radiación CuKα en geometría de Bragg-Brentano o con incidencia fija a bajo ángulo (1°) (penetración menor a 2 µm). Las mediciones se realizaron sobre los fragmentos in situ, en un rango de 2 de 5 a 60°. El estudio de micro-DRX se efectuó en geometría de haz paralelo con baja divergencia con un equipo de dispersión de rayos X a bajo ángulo y medición simultánea a ángulos intermedios (SAXS-WAXS) XEUSS 2.0, XENOCS (Francia), disponible en el Laboratorio de Cristalografía Aplicada, ITECA, CONICET-UNSAM. El equipo cuenta con un tubo de rayos X de microfoco con ánodo de Cu y dos detectores bidimensionales sincrónicos Pilatus de Dectris (Suiza). Fue posible analizar ca. 5-10 mg de pigmento, raspado de la superficie de los fragmentos, en un rango de 2 entre 5 y 45º.Se concluye que las tres configuraciones poseen aspectos positivos para considerar su preferencia de acuerdo a las características particulares de cada caso. La aplicación de la técnica in situ es factible en objetos que puedan transportarse al laboratorio. La configuración en geometría Bragg-Brentano informa las fases cristalinas presentes en las capas de pigmentos superpuestas y en la pasta cerámica en conjunto, aspecto que complejiza su interpretación. La incidencia fija a bajo ángulo resulta útil para discriminar capas pigmentarias de modo independiente, pero las superficies cóncavas o convexas de muchas alfarerías producen distorsiones en las mediciones. La micro-DRX es útil para el estudio de fragmentos no museables y de piezas que no pueden trasladarse. Una cuidadosa extracción de la muestra permite el estudio independiente de cada capa pigmentaria, aspecto que confiere precisión a los resultados y simplifica su interpretación; no obstante, debe considerarse su carácter micro destructivo.
Fil: Fuertes, Maria Cecilia. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Oficina de Coordinacion Administrativa Ciudad Universitaria. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes | Comision Nacional de Energia Atomica. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes.; Argentina
Fil: Palamarczuk, Valeria. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto de las Culturas. Universidad de Buenos Aires. Instituto de las Culturas; Argentina
Fil: Lamas, Diego Germán. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas. - Universidad Nacional de San Martin. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas.; Argentina
Fil: Huck Itiart, Cristián. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas. - Universidad Nacional de San Martin. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas.; Argentina
Congreso Latinoamericano de Arqueometría, Arte y Conservación del Patrimonio Cultural. CLASMAC
San José de Mayo
Uruguay
Ministerio de Educación y Cultura. Dirección Nacional de Innovación, Ciencia y Tecnología
Materia
DIFRACCIÓN DE RAYOS X
MICRODIFRACCIÓN DE RAYOS X
CERÁMICA ARQUEOLÓGICA
PIGMENTOS CERÁMICOS
ENGOBES
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/
Repositorio
CONICET Digital (CONICET)
Institución
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
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En especial, cuando se plantea el análisis de cerámicas arqueológicas -que condensan valoraciones diversas en tanto objetos del patrimonio cultural, acervos de museos, elementos sagrados o imbuidos de espíritu-, se debe poner en consideración en cada caso la eficiencia, la posibilidad y la pertinencia de efectuar análisis in situ o de extraer muestras pequeñas. Tomando en cuenta estos aspectos, se diseñó una estrategia de comparación entre diferentes modos de instrumentación de la técnica de difracción de rayos X de polvos (DRX). DRX es la técnica por excelencia para identificar fases cristalinas. Se coteja su aplicación en tres configuraciones: DRX con geometría de Bragg-Brentano, DRX con incidencia rasante y micro-DRX. Se realizaron mediciones de pigmentos superpuestos de tonos rojo, negro y crema de dos fragmentos cerámicos de estilos San José y Santa María del valle de Yocavil, Catamarca, Argentina y se compararon los resultados. Las dos primeras configuraciones se realizaron utilizando un difractómetro Empyrean de Malvern Panalytical, con radiación CuKα en geometría de Bragg-Brentano o con incidencia fija a bajo ángulo (1°) (penetración menor a 2 µm). Las mediciones se realizaron sobre los fragmentos in situ, en un rango de 2 de 5 a 60°. El estudio de micro-DRX se efectuó en geometría de haz paralelo con baja divergencia con un equipo de dispersión de rayos X a bajo ángulo y medición simultánea a ángulos intermedios (SAXS-WAXS) XEUSS 2.0, XENOCS (Francia), disponible en el Laboratorio de Cristalografía Aplicada, ITECA, CONICET-UNSAM. El equipo cuenta con un tubo de rayos X de microfoco con ánodo de Cu y dos detectores bidimensionales sincrónicos Pilatus de Dectris (Suiza). Fue posible analizar ca. 5-10 mg de pigmento, raspado de la superficie de los fragmentos, en un rango de 2 entre 5 y 45º.Se concluye que las tres configuraciones poseen aspectos positivos para considerar su preferencia de acuerdo a las características particulares de cada caso. La aplicación de la técnica in situ es factible en objetos que puedan transportarse al laboratorio. La configuración en geometría Bragg-Brentano informa las fases cristalinas presentes en las capas de pigmentos superpuestas y en la pasta cerámica en conjunto, aspecto que complejiza su interpretación. La incidencia fija a bajo ángulo resulta útil para discriminar capas pigmentarias de modo independiente, pero las superficies cóncavas o convexas de muchas alfarerías producen distorsiones en las mediciones. La micro-DRX es útil para el estudio de fragmentos no museables y de piezas que no pueden trasladarse. Una cuidadosa extracción de la muestra permite el estudio independiente de cada capa pigmentaria, aspecto que confiere precisión a los resultados y simplifica su interpretación; no obstante, debe considerarse su carácter micro destructivo.Fil: Fuertes, Maria Cecilia. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Oficina de Coordinacion Administrativa Ciudad Universitaria. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes | Comision Nacional de Energia Atomica. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes.; ArgentinaFil: Palamarczuk, Valeria. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto de las Culturas. Universidad de Buenos Aires. Instituto de las Culturas; ArgentinaFil: Lamas, Diego Germán. 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Fil: Fuertes, Maria Cecilia. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Oficina de Coordinacion Administrativa Ciudad Universitaria. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes | Comision Nacional de Energia Atomica. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia. Unidad Ejecutora Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia - Nodo Constituyentes.; Argentina
Fil: Palamarczuk, Valeria. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Oficina de Coordinación Administrativa Saavedra 15. Instituto de las Culturas. Universidad de Buenos Aires. Instituto de las Culturas; Argentina
Fil: Lamas, Diego Germán. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas. - Universidad Nacional de San Martin. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas.; Argentina
Fil: Huck Itiart, Cristián. Consejo Nacional de Investigaciones Cientificas y Tecnicas. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas. - Universidad Nacional de San Martin. Instituto de Tecnologias Emergentes y Ciencias Aplicadas.; Argentina
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San José de Mayo
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