Mapeo fino de un gen de resistencia a la roya de la hoja, de expresión en planta adulta en el cromosoma 4BL, proveniente del cultivar tradicional de trigo con resistencia durable S...

• Autores: Dabove, Marisol Alicia
• Año de publicación: 2023
• Idioma: español castellano
• Tipo de recurso: tesis doctoral
• Colaborador/a o director/a de tesis: Dieguez, María José; Sacco, Francisco
• Materia: TRITICUM AESTIVUM; MAPEO DE ALTA RESOLUCION; RESISTENCIA DURABLE; GENES DE RESISTENCIA; PUCCINIA TRITICINA; ROYA DE LA HOJA DE TRIGO; TRITICUM AESTIVUM; HIGH-RESOLUTION MAPPING; DURABLE RESISTANCE; RESISTANCE GENES; PUCCINIA TRITICINA; WHEAT LEAF RUST
• Institución: Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales

El objetivo general del presente proyecto es realizar el mapeo de alta resolución de un gen de resistencia a roya de la hoja de trigo identificado en una variedad con resistencia durable a esta enfermedad. La identificación de marcadores moleculares ligados a caracteres de interés permite asistir de manera eficiente la incorporación de los mismos en los programas de mejoramiento. A su vez, la disponibilidad de un mapa de alta resolución permite definir un intervalo donde las distancias genéticas son representativas de las distancias físicas, requisito necesario para abordar la búsqueda de genes candidatos para su clonado posicional. El gen LrcSV2 es un gen de resistencia de efecto mayor, complementario del gen LrSV2, que fue reportado como uno de los factores con un efecto aditivo significativo en la resistencia durable a roya de la hoja del trigo en el cultivar tradicional argentino Sinvalocho MA. El análisis de 2152 individuos F2 derivados del cruzamiento de Sinvalocho (parental resistente) X Purple Straw (parental susceptible), permitió delimitar al gen LrcSV2 dentro de un intervalo de 0,09cM definido por los marcadores FSs135 y FSp16. Este intervalo genético equivale a 1,57Mb en la secuencia de la variedad modelo Chinese Spring donde se anotaron 16 genes de alta confiabilidad.
The overall objective of the present project is to perform high-resolution mapping of a leaf rust resistance gene in wheat, identified in a variety with durable resistance. The identification of molecular markers linked to traits of interest allows for the efficient incorporation of these markers into breeding programs. Furthermore, the availability of a high-resolution map allows the definition of an interval where genetic distances are representative of physical distances, a necessary requirement for the identification of candidate genes for positional cloning. The LrcSV2 gene is a major-effect resistance gene, complementary to the LrSV2 gene, which has been reported as one of the factors with a significant additive effect on durable leaf rust resistance in the traditional argentine cultivar Sinvalocho MA. The analysis of 2152 F2 individuals derived from the cross between Sinvalocho (resistant parent) and Purple Straw (susceptible parent) allowed for the delimitation of the LrcSV2 gene within an interval of 0.09cM defined by the markers FSs135 and FSp16. This genetic interval corresponds to 1.57Mb in the sequence of the model variety Chinese Spring, where 16 high confidence genes were reported.
Fil: Dabove, Marisol Alicia. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina.