Crecimiento de películas ultra-delgadas de aisladores sobre una superficie metálica : AlF3 sobre Cu(100)

Autores
Moreno López, J. C.; Ruano Sandoval, Gustavo Daniel; Vidal, R. A.; Passeggi, Mario César Guillermo; Ferrón, Julio
Año de publicación
2009
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
En este trabajo caracterizamos el crecimiento de películas de fluoruro de aluminio (AlF3) sobre Cu(100) mediante la técnica de microscopía túnel de barrido (STM). Las imágenes túnel muestran que a medida que van creciendo en tamaño las islas de fluoruro de aluminio, éstas experimentan una transición en su forma a bajos recubrimientos, de compacta a fractal (ramificada). Las islas de forma ramificada crecen lateralmente formando una película bidimensional hasta un recubrimiento de 0.80 monocapas. A mayores recubrimientos el crecimiento del tipo 2D cambia a 3D. Para obtener las imágenes túnel fue necesario utilizar altos voltajes (V≥2.50 V) lo cual muestra el carácter aislador de las islas de fluoruro de aluminio
In this study we report the growth of aluminium fluoride (AlF3) films over a Cu(100) surface by means of scanning tunnelling microscopy (STM). The measurements reveal that aluminium fluoride islands undergo a shape transition at very low coverages, from compact to fractal-like, as they grow in size. These fractal-like islands cover the substrate with a single monolayer film up to depositions of 0.80 monolayers, while for larger coverages the growth results in the formation of three dimension islands. High voltages (V≥2.50 V) are needed to obtain STM images, showing the insulator character of the AlF3 islands
Fil: Moreno López, J. C.. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
Fil: Ruano Sandoval, Gustavo Daniel. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
Fil: Vidal, R. A.. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
Fil: Passeggi, Mario César Guillermo. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
Fil: Ferrón, Julio. Universidad Nacional del Litoral - CONICET. Instituto de Desarrollo Tecnológico para la Industria Química (INTEC). Santa Fe. Argentina
Fuente
An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2009;01(21):230-233
Materia
FLUORURO DE ALUMINIO
COBRE
CRECIMIENTO DE PELICULAS ULTRA DELGADAS
STM
ALUMINIUM FLUORIDE
COPPER
ULTRA THIN FILMS GROWTH
STM
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
OAI Identificador
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Acceder
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In this study we report the growth of aluminium fluoride (AlF3) films over a Cu(100) surface by means of scanning tunnelling microscopy (STM). The measurements reveal that aluminium fluoride islands undergo a shape transition at very low coverages, from compact to fractal-like, as they grow in size. These fractal-like islands cover the substrate with a single monolayer film up to depositions of 0.80 monolayers, while for larger coverages the growth results in the formation of three dimension islands. High voltages (V≥2.50 V) are needed to obtain STM images, showing the insulator character of the AlF3 islands
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