Interacción de iones con superficies de películas aislantes : emisión electrónica

Autores
Otero, Gonzalo; Tognalli, Nicolás; Sánchez, Esteban Alejandro; Grizzi, Oscar; Ponce, Víctor Hugo
Año de publicación
2002
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
Se caracterizó el crecimiento de películas delgadas de fluoruro de aluminio (AlF₃) sobre superficies conductoras (aluminio y cobre) por espectroscopía de electrones Auger inducida por bombardeo de electrones. Se observó que el crecimiento de las películas es capa por capa. Se estudió la emisión electrónica inducida por bombardeo rasante (α=1°) de protones a energía intermedia (60 keV) en función del espesor de la película (desde submonocapas hasta ~200Å). En particular, se centró la atención en los cambios observados en la distribución en energía de los electrones convoy, es decir, aquellos electrones que luego de la colisión con la superficie siguen al proyectil con velocidades similares. Se compararon estas distribuciones con las correspondientes a colisiones en fase gaseosa, discriminando de esta forma los efectos de los potenciales inducidos sobre la superficie, tanto para el caso del sustrato (conductor) como para el de la película aislante depositada
We characterized the growth of thin AlF3 films over Al and Cu conducting surfaces by means of Auger Electron Spectroscopy induced by electron bombardment. We observed a layer by layer growth. We studied the changes produced in the electronic emission induced by grazing bombardment (α=1°) with intermediate energy protons (60 keV) as a function of the film thickness (from submonolayer coverage up to several layers ~200Å). In particular, we focussed our attention in the changes observed in the energy distribution of the convoy electrons, i.e., those electrons which after the collision with the surface follow the projectile with a similar velocity. We compared these distributions with the corresponding one in gas phase collisions. These measurements allowed discrimination of the effects of the potential induced on the surface, for both the conducting and the insulating surfaces
Fil: Otero, Gonzalo. Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro (UNCuyo-IB). Río Negro. Argentina
Fil: Tognalli, Nicolás. Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro (UNCuyo-IB). Río Negro. Argentina
Fil: Sánchez, Esteban Alejandro. Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro (UNCuyo-IB). Río Negro. Argentina
Fil: Grizzi, Oscar. Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro (UNCuyo-IB). Río Negro. Argentina
Fil: Ponce, Víctor Hugo. Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro (UNCuyo-IB). Río Negro. Argentina
Fuente
An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2002;01(14):171-175
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
OAI Identificador
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We characterized the growth of thin AlF3 films over Al and Cu conducting surfaces by means of Auger Electron Spectroscopy induced by electron bombardment. We observed a layer by layer growth. We studied the changes produced in the electronic emission induced by grazing bombardment (α=1°) with intermediate energy protons (60 keV) as a function of the film thickness (from submonolayer coverage up to several layers ~200Å). In particular, we focussed our attention in the changes observed in the energy distribution of the convoy electrons, i.e., those electrons which after the collision with the surface follow the projectile with a similar velocity. We compared these distributions with the corresponding one in gas phase collisions. These measurements allowed discrimination of the effects of the potential induced on the surface, for both the conducting and the insulating surfaces
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