Determinación del espesor de aleaciones metálicas

Autores
Argañaras, Pablo E.; Farías, Matías; Mariguin, Miguel; Iturra, Renzo
Año de publicación
2015
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
La microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica a través de la cual se pueden obtener imágenes con gran aumento y figuras de difracción de un material cristalino utilizando un haz de electrones. El TEM permite visualizar y cuantificar la densidad de defectos en un material cristalino proporcionando información relevante para el estudio de propiedades de materiales. Las muestras preparadas para observar con esta técnica tienen variaciones de espesor local, por lo tanto, para la determinación de la densidad de defectos se debe encontrar el espesor local. Un método utilizado consiste en la comparación en forma visual, de una imagen experimental con imágenes simuladas para diferentes valores de espesor, dificultando la clasificación y selección. Por ello, se propone la automatización de la comparación de imágenes y el desarrollo de algoritmos de comparación de imágenes, que cuantifique el acuerdo entre imágenes, para acelerar y refinar la precisión del método de selección, ofreciendo una recomendación de un grupo reducido de imágenes seleccionables en pocos segundos.
Sociedad Argentina de Informática e Investigación Operativa (SADIO)
Materia
Ciencias Informáticas
Microscopía Electrónica de Transmisión
método estadístico
Algorithms
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
http://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/
Repositorio
SEDICI (UNLP)
Institución
Universidad Nacional de La Plata
OAI Identificador
oai:sedici.unlp.edu.ar:10915/52135
Acceder
id SEDICI_a1ea111a114c73e58767e39977975bce
oai_identifier_str oai:sedici.unlp.edu.ar:10915/52135
network_acronym_str SEDICI
repository_id_str 1329
network_name_str SEDICI (UNLP)
spelling Determinación del espesor de aleaciones metálicasArgañaras, Pablo E.Farías, MatíasMariguin, MiguelIturra, RenzoCiencias InformáticasMicroscopía Electrónica de Transmisiónmétodo estadísticoAlgorithmsLa microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica a través de la cual se pueden obtener imágenes con gran aumento y figuras de difracción de un material cristalino utilizando un haz de electrones. El TEM permite visualizar y cuantificar la densidad de defectos en un material cristalino proporcionando información relevante para el estudio de propiedades de materiales. Las muestras preparadas para observar con esta técnica tienen variaciones de espesor local, por lo tanto, para la determinación de la densidad de defectos se debe encontrar el espesor local. Un método utilizado consiste en la comparación en forma visual, de una imagen experimental con imágenes simuladas para diferentes valores de espesor, dificultando la clasificación y selección. Por ello, se propone la automatización de la comparación de imágenes y el desarrollo de algoritmos de comparación de imágenes, que cuantifique el acuerdo entre imágenes, para acelerar y refinar la precisión del método de selección, ofreciendo una recomendación de un grupo reducido de imágenes seleccionables en pocos segundos.Sociedad Argentina de Informática e Investigación Operativa (SADIO)2015info:eu-repo/semantics/conferenceObjectinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionObjeto de conferenciahttp://purl.org/coar/resource_type/c_5794info:ar-repo/semantics/documentoDeConferenciaapplication/pdf216-223http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/52135spainfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://44jaiio.sadio.org.ar/sites/default/files/asai216-223.pdfinfo:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/2451-7585info:eu-repo/semantics/openAccesshttp://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/Creative Commons Attribution-ShareAlike 3.0 Unported (CC BY-SA 3.0)reponame:SEDICI (UNLP)instname:Universidad Nacional de La Platainstacron:UNLP2025-09-29T11:04:34Zoai:sedici.unlp.edu.ar:10915/52135Institucionalhttp://sedici.unlp.edu.ar/Universidad públicaNo correspondehttp://sedici.unlp.edu.ar/oai/snrdalira@sedici.unlp.edu.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:13292025-09-29 11:04:35.171SEDICI (UNLP) - Universidad Nacional de La Platafalse
dc.title.none.fl_str_mv Determinación del espesor de aleaciones metálicas
title Determinación del espesor de aleaciones metálicas
spellingShingle Determinación del espesor de aleaciones metálicas
Argañaras, Pablo E.
Ciencias Informáticas
Microscopía Electrónica de Transmisión
método estadístico
Algorithms
title_short Determinación del espesor de aleaciones metálicas
title_full Determinación del espesor de aleaciones metálicas
title_fullStr Determinación del espesor de aleaciones metálicas
title_full_unstemmed Determinación del espesor de aleaciones metálicas
title_sort Determinación del espesor de aleaciones metálicas
dc.creator.none.fl_str_mv Argañaras, Pablo E.
Farías, Matías
Mariguin, Miguel
Iturra, Renzo
author Argañaras, Pablo E.
author_facet Argañaras, Pablo E.
Farías, Matías
Mariguin, Miguel
Iturra, Renzo
author_role author
author2 Farías, Matías
Mariguin, Miguel
Iturra, Renzo
author2_role author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv Ciencias Informáticas
Microscopía Electrónica de Transmisión
método estadístico
Algorithms
topic Ciencias Informáticas
Microscopía Electrónica de Transmisión
método estadístico
Algorithms
dc.description.none.fl_txt_mv La microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica a través de la cual se pueden obtener imágenes con gran aumento y figuras de difracción de un material cristalino utilizando un haz de electrones. El TEM permite visualizar y cuantificar la densidad de defectos en un material cristalino proporcionando información relevante para el estudio de propiedades de materiales. Las muestras preparadas para observar con esta técnica tienen variaciones de espesor local, por lo tanto, para la determinación de la densidad de defectos se debe encontrar el espesor local. Un método utilizado consiste en la comparación en forma visual, de una imagen experimental con imágenes simuladas para diferentes valores de espesor, dificultando la clasificación y selección. Por ello, se propone la automatización de la comparación de imágenes y el desarrollo de algoritmos de comparación de imágenes, que cuantifique el acuerdo entre imágenes, para acelerar y refinar la precisión del método de selección, ofreciendo una recomendación de un grupo reducido de imágenes seleccionables en pocos segundos.
Sociedad Argentina de Informática e Investigación Operativa (SADIO)
description La microscopía electrónica de transmisión (TEM) es una técnica a través de la cual se pueden obtener imágenes con gran aumento y figuras de difracción de un material cristalino utilizando un haz de electrones. El TEM permite visualizar y cuantificar la densidad de defectos en un material cristalino proporcionando información relevante para el estudio de propiedades de materiales. Las muestras preparadas para observar con esta técnica tienen variaciones de espesor local, por lo tanto, para la determinación de la densidad de defectos se debe encontrar el espesor local. Un método utilizado consiste en la comparación en forma visual, de una imagen experimental con imágenes simuladas para diferentes valores de espesor, dificultando la clasificación y selección. Por ello, se propone la automatización de la comparación de imágenes y el desarrollo de algoritmos de comparación de imágenes, que cuantifique el acuerdo entre imágenes, para acelerar y refinar la precisión del método de selección, ofreciendo una recomendación de un grupo reducido de imágenes seleccionables en pocos segundos.
publishDate 2015
dc.date.none.fl_str_mv 2015
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/conferenceObject
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Objeto de conferencia
http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
info:ar-repo/semantics/documentoDeConferencia
format conferenceObject
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/52135
url http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/52135
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/altIdentifier/url/http://44jaiio.sadio.org.ar/sites/default/files/asai216-223.pdf
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/2451-7585
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
http://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/
Creative Commons Attribution-ShareAlike 3.0 Unported (CC BY-SA 3.0)
eu_rights_str_mv openAccess
rights_invalid_str_mv http://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/
Creative Commons Attribution-ShareAlike 3.0 Unported (CC BY-SA 3.0)
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
216-223
dc.source.none.fl_str_mv reponame:SEDICI (UNLP)
instname:Universidad Nacional de La Plata
instacron:UNLP
reponame_str SEDICI (UNLP)
collection SEDICI (UNLP)
instname_str Universidad Nacional de La Plata
instacron_str UNLP
institution UNLP
repository.name.fl_str_mv SEDICI (UNLP) - Universidad Nacional de La Plata
repository.mail.fl_str_mv alira@sedici.unlp.edu.ar
_version_ 1844615914524246016
score 13.070432

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