Arqueometría : técnicas de rayos X aplicadas al análisis químico en patrimonio cultural

Autores: Álvarez, R.; Ugarteche, S.; Amore, S.; Loiacono, N.; Schvartz, M.; Spina, J.; Álvarez, D.
Año de publicación: 2017
Idioma: español castellano
Tipo de recurso: documento de conferencia
Estado: versión aceptada
Descripción: Fil: Álvarez, R. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
Fil: Ugarteche, S. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
Fil: Amore, S. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
Fil: Loiacono, N. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
Fil: Schvartz, M. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química; Argentina
Fil: Spina, J. Universidad Nacional de Lanús (UNLa); Argentina
Fil: Álvarez, D. ADVENTVS; Argentina
Fuente: TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Materia: Rayos X
Análisis químico
Patrimonio
Bienes culturales
Nivel de accesibilidad: acceso abierto
Condiciones de uso: De acuerdo con las condiciones establecidas por el art. 10 del "Reglamento Operativo para la Aplicación de la Ley Nº 26.899" (Res. 753 - E/2016 del Min. de Ciencia, Tecnología e Innovación Productiva), se permite la lectura, descarga e impresión de esta obra. Todos los demás derechos están reservados
Repositorio
Institución: Instituto Nacional de Tecnología Industrial
OAI Identificador: nuevadc:TecnoINTI2017-092_pdf

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