Low-cost dc bist for analog circuits: a case study

Autores
Petrashin, Pablo; Dualibe, Carlos; Toledo, Luis; Lancioni, Walter
Año de publicación
2013
Idioma
inglés
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.
Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina.
Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina.
Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina.
This paper presents a DC analog testing technique based on a simple voltage comparison of the highest sensitivity node, which is found by simulation. The technique is a structural, fault driven testing approach and can be applied to any analog circuit with very few extra added circuitry. A proof of concept has been implemented in a 65nm low-voltage transconductor, showing good fault coverage for both catastrophic and parametric faults.
Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.
Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina.
Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina.
Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina.
Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
Materia
DC_TEST
Analog
Testing
Electrónica
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
Repositorio
Repositorio Digital Universitario (UNC)
Institución
Universidad Nacional de Córdoba
OAI Identificador
oai:rdu.unc.edu.ar:11086/20347
Acceder
id RDUUNC_72b299f063da3867c7e599baf34f653f
oai_identifier_str oai:rdu.unc.edu.ar:11086/20347
network_acronym_str RDUUNC
repository_id_str 2572
network_name_str Repositorio Digital Universitario (UNC)
spelling Low-cost dc bist for analog circuits: a case studyPetrashin, PabloDualibe, CarlosToledo, LuisLancioni, WalterDC_TESTAnalogTestingElectrónicaFil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina.Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina.Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina.This paper presents a DC analog testing technique based on a simple voltage comparison of the highest sensitivity node, which is found by simulation. The technique is a structural, fault driven testing approach and can be applied to any analog circuit with very few extra added circuitry. A proof of concept has been implemented in a 65nm low-voltage transconductor, showing good fault coverage for both catastrophic and parametric faults.Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina.Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina.Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina.Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la InformaciónFacultad de Ciencias Exactas, Físicas y Naturales2013info:eu-repo/semantics/conferenceObjectinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_5794info:ar-repo/semantics/documentoDeConferenciaapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11086/20347enginfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositorio Digital Universitario (UNC)instname:Universidad Nacional de Córdobainstacron:UNC2025-11-06T09:38:03Zoai:rdu.unc.edu.ar:11086/20347Institucionalhttps://rdu.unc.edu.ar/Universidad públicaNo correspondehttp://rdu.unc.edu.ar/oai/snrdoca.unc@gmail.comArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:25722025-11-06 09:38:04.275Repositorio Digital Universitario (UNC) - Universidad Nacional de Córdobafalse
dc.title.none.fl_str_mv Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
title Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
spellingShingle Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
Petrashin, Pablo
DC_TEST
Analog
Testing
Electrónica
title_short Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
title_full Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
title_fullStr Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
title_full_unstemmed Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
title_sort Low-cost dc bist for analog circuits: a case study
dc.creator.none.fl_str_mv Petrashin, Pablo
Dualibe, Carlos
Toledo, Luis
Lancioni, Walter
author Petrashin, Pablo
author_facet Petrashin, Pablo
Dualibe, Carlos
Toledo, Luis
Lancioni, Walter
author_role author
author2 Dualibe, Carlos
Toledo, Luis
Lancioni, Walter
author2_role author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv DC_TEST
Analog
Testing
Electrónica
topic DC_TEST
Analog
Testing
Electrónica
dc.description.none.fl_txt_mv Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.
Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina.
Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina.
Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina.
This paper presents a DC analog testing technique based on a simple voltage comparison of the highest sensitivity node, which is found by simulation. The technique is a structural, fault driven testing approach and can be applied to any analog circuit with very few extra added circuitry. A proof of concept has been implemented in a 65nm low-voltage transconductor, showing good fault coverage for both catastrophic and parametric faults.
Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.
Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina.
Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina.
Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina.
Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
description Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.
publishDate 2013
dc.date.none.fl_str_mv 2013
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/conferenceObject
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
info:ar-repo/semantics/documentoDeConferencia
format conferenceObject
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/11086/20347
url http://hdl.handle.net/11086/20347
dc.language.none.fl_str_mv eng
language eng
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Facultad de Ciencias Exactas, Físicas y Naturales
publisher.none.fl_str_mv Facultad de Ciencias Exactas, Físicas y Naturales
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositorio Digital Universitario (UNC)
instname:Universidad Nacional de Córdoba
instacron:UNC
reponame_str Repositorio Digital Universitario (UNC)
collection Repositorio Digital Universitario (UNC)
instname_str Universidad Nacional de Córdoba
instacron_str UNC
institution UNC
repository.name.fl_str_mv Repositorio Digital Universitario (UNC) - Universidad Nacional de Córdoba
repository.mail.fl_str_mv oca.unc@gmail.com
_version_ 1848046223706030080
score 12.576249

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