Low-cost dc bist for analog circuits: a case study

Autores
Petrashin, Pablo; Dualibe, Carlos; Toledo, Luis; Lancioni, Walter
Año de publicación
2013
Idioma
inglés
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.
Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina.
Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina.
Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina.
This paper presents a DC analog testing technique based on a simple voltage comparison of the highest sensitivity node, which is found by simulation. The technique is a structural, fault driven testing approach and can be applied to any analog circuit with very few extra added circuitry. A proof of concept has been implemented in a 65nm low-voltage transconductor, showing good fault coverage for both catastrophic and parametric faults.
Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.
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Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Información
Materia
DC_TEST
Analog
Testing
Electrónica
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
Repositorio
Repositorio Digital Universitario (UNC)
Institución
Universidad Nacional de Córdoba
OAI Identificador
oai:rdu.unc.edu.ar:11086/20347
Acceder
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