Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado

Autores
Rojas, María del Carmen
Año de publicación
2017
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
tesis de grado
Estado
versión publicada
Colaborador/a o director/a de tesis
Anoardo, Esteban
Romero, Eduardo A.
Descripción
Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2017.
En este trabajo se propone realizar un estudio de las causas de estrés a la que están sometidos los transistores MOSFET de potencia que conforman la fuente de alimentación en instrumentos de Resonancia Magnética Nuclear (RMN) con campo magnético ciclado. Se presenta un estudio de las posibles causas de estrés y los mecanismos físicos de degradación asociados, información necesaria para el diseño de sistemas de protección eficientes, y estrategias adecuadas de prognosis que permitan anticipar eventuales fallos. Se estudia experimentalmente los causales de estrés bajo condiciones típicas de funcionamiento.
This paper proposes a study of the causes of stress in the power MOSFET transistors that are part of the power supply in instruments of Nuclear Magnetic Resonance (NMR) with magnetic field cycling. Presents a study of the causes of stress and the associated physical mechanisms of degradation, necessary information for the design of efficient protection systems and appropiate strategies for prognosis enabling to anticipate any failures. We experimentally study the causes of stress under typical operating conditions.
Materia
Magnetic resonances and relaxations
Field effect devices
RMN con campo magnético ciclado
Transistor MOSFET de potencia
Mecanismos de falla
Estrategias de prognosis
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
Repositorio
Repositorio Digital Universitario (UNC)
Institución
Universidad Nacional de Córdoba
OAI Identificador
oai:rdu.unc.edu.ar:11086/5756
Acceder
id RDUUNC_5e2769b4f040a057a7dc8617fa3c59c2
oai_identifier_str oai:rdu.unc.edu.ar:11086/5756
network_acronym_str RDUUNC
repository_id_str 2572
network_name_str Repositorio Digital Universitario (UNC)
spelling Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético cicladoRojas, María del CarmenMagnetic resonances and relaxationsField effect devicesRMN con campo magnético cicladoTransistor MOSFET de potenciaMecanismos de fallaEstrategias de prognosisTesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2017.En este trabajo se propone realizar un estudio de las causas de estrés a la que están sometidos los transistores MOSFET de potencia que conforman la fuente de alimentación en instrumentos de Resonancia Magnética Nuclear (RMN) con campo magnético ciclado. Se presenta un estudio de las posibles causas de estrés y los mecanismos físicos de degradación asociados, información necesaria para el diseño de sistemas de protección eficientes, y estrategias adecuadas de prognosis que permitan anticipar eventuales fallos. Se estudia experimentalmente los causales de estrés bajo condiciones típicas de funcionamiento.This paper proposes a study of the causes of stress in the power MOSFET transistors that are part of the power supply in instruments of Nuclear Magnetic Resonance (NMR) with magnetic field cycling. Presents a study of the causes of stress and the associated physical mechanisms of degradation, necessary information for the design of efficient protection systems and appropiate strategies for prognosis enabling to anticipate any failures. We experimentally study the causes of stress under typical operating conditions.Anoardo, EstebanRomero, Eduardo A.2017-03info:eu-repo/semantics/bachelorThesisinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_7a1finfo:ar-repo/semantics/tesisDeGradoapplication/pdfhttp://hdl.handle.net/11086/5756spainfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositorio Digital Universitario (UNC)instname:Universidad Nacional de Córdobainstacron:UNC2025-09-29T13:43:27Zoai:rdu.unc.edu.ar:11086/5756Institucionalhttps://rdu.unc.edu.ar/Universidad públicaNo correspondehttp://rdu.unc.edu.ar/oai/snrdoca.unc@gmail.comArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:25722025-09-29 13:43:27.32Repositorio Digital Universitario (UNC) - Universidad Nacional de Córdobafalse
dc.title.none.fl_str_mv Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado
title Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado
spellingShingle Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado
Rojas, María del Carmen
Magnetic resonances and relaxations
Field effect devices
RMN con campo magnético ciclado
Transistor MOSFET de potencia
Mecanismos de falla
Estrategias de prognosis
title_short Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado
title_full Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado
title_fullStr Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado
title_full_unstemmed Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado
title_sort Degradación de transistores MOSFET de potencia en alimentadores de instrumentos de resonancia magnética nuclear con campo magnético ciclado
dc.creator.none.fl_str_mv Rojas, María del Carmen
author Rojas, María del Carmen
author_facet Rojas, María del Carmen
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Anoardo, Esteban
Romero, Eduardo A.
dc.subject.none.fl_str_mv Magnetic resonances and relaxations
Field effect devices
RMN con campo magnético ciclado
Transistor MOSFET de potencia
Mecanismos de falla
Estrategias de prognosis
topic Magnetic resonances and relaxations
Field effect devices
RMN con campo magnético ciclado
Transistor MOSFET de potencia
Mecanismos de falla
Estrategias de prognosis
dc.description.none.fl_txt_mv Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2017.
En este trabajo se propone realizar un estudio de las causas de estrés a la que están sometidos los transistores MOSFET de potencia que conforman la fuente de alimentación en instrumentos de Resonancia Magnética Nuclear (RMN) con campo magnético ciclado. Se presenta un estudio de las posibles causas de estrés y los mecanismos físicos de degradación asociados, información necesaria para el diseño de sistemas de protección eficientes, y estrategias adecuadas de prognosis que permitan anticipar eventuales fallos. Se estudia experimentalmente los causales de estrés bajo condiciones típicas de funcionamiento.
This paper proposes a study of the causes of stress in the power MOSFET transistors that are part of the power supply in instruments of Nuclear Magnetic Resonance (NMR) with magnetic field cycling. Presents a study of the causes of stress and the associated physical mechanisms of degradation, necessary information for the design of efficient protection systems and appropiate strategies for prognosis enabling to anticipate any failures. We experimentally study the causes of stress under typical operating conditions.
description Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2017.
publishDate 2017
dc.date.none.fl_str_mv 2017-03
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
http://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
info:ar-repo/semantics/tesisDeGrado
format bachelorThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/11086/5756
url http://hdl.handle.net/11086/5756
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositorio Digital Universitario (UNC)
instname:Universidad Nacional de Córdoba
instacron:UNC
reponame_str Repositorio Digital Universitario (UNC)
collection Repositorio Digital Universitario (UNC)
instname_str Universidad Nacional de Córdoba
instacron_str UNC
institution UNC
repository.name.fl_str_mv Repositorio Digital Universitario (UNC) - Universidad Nacional de Córdoba
repository.mail.fl_str_mv oca.unc@gmail.com
_version_ 1844618956394987520
score 13.070432

Publicaciones similares