Estudio de la degradación de dispositivos nano-micro electrónicos y desarrollo de técnicas de diagnóstico empleando un micro haz de iones pesados de alta energía

Autores
Vega, Nahuel Agustín
Año de publicación
2020
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
tesis doctoral
Estado
versión aceptada
Colaborador/a o director/a de tesis
Debray, Mario Ernesto
Palumbo, Félix
Universidad Nacional de San Martín (Argentina). Instituto de Tecnología "Jorge Sabato"
Comisión Nacional de Energía Atómica (Argentina). Centro Atómico Constituyentes.
Descripción
Fil: Vega, Nahuel Agustín. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Universidad Nacional de San Martín (Argentina). Instituto de Tecnología "Jorge Sabato"
Comisión Nacional de Energía Atómica (Argentina). Centro Atómico Constituyentes.
Doctorado en Ciencia y Tecnología, Mención Física
Materia
EFECTOS FISICOS DE LAS RADIACIONES
PHYSICAL RADIATION EFFECTS
IONES PESADOS
HEAVY IONS
SIMULACIONES
SIMULATORS
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
Repositorio
Nuclea (CNEA)
Institución
Comisión Nacional de Energía Atómica
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