Cita APA

Dussan, A., Schmidt, J. A., & Koropecki, R. R. (2008). Estudio Comparativo de la Densidad de Estados en Muestras de Silicio Microcristalino Obtenida a Través del Método de Conductividad Térmicamente Estimulada y Técnicas de Fotoconductividad Modulada. Web

Citación estilo Chicago

Dussan, Anderson, Javier Alejandro Schmidt, and Roberto Roman Koropecki. Estudio Comparativo De La Densidad De Estados En Muestras De Silicio Microcristalino Obtenida a Través Del Método De Conductividad Térmicamente Estimulada Y Técnicas De Fotoconductividad Modulada. 2008.

Cita MLA

Dussan, Anderson, Javier Alejandro Schmidt, and Roberto Roman Koropecki. Estudio Comparativo De La Densidad De Estados En Muestras De Silicio Microcristalino Obtenida a Través Del Método De Conductividad Térmicamente Estimulada Y Técnicas De Fotoconductividad Modulada. 2008.