Apantallamiento magnético nuclear en compuestos con Sn y con elementos del grupo 16 de la TP

Autores
Maldonado, Alejandro Fabián; Aucar, Gustavo Adolfo; Gomez, Sergio Santiago
Año de publicación
2008
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
Los efectos relativistas son importantes para la determinación de la estructura electrónica de moléculas que contienen átomos pesados. Esto es particularmente cierto para las propiedades de RMN. El acoplamiento entre espines nucleares puede ser medido directamente a partir del espectro de resonancia. En el caso del apantallamiento magnético, sin embargo, se mide el corrimiento químico, que es una diferencia de apantallamientos del núcleo en dos entornos diferentes. Para obtener el valor absoluto del apantallamiento se utilizan mediciones de la constante de espín rotacional debido a que existe una relación teórica entre ambas. No hay una prueba teórica de la validez de dicha relación cuando los efectos relativistas son importantes, como es el caso de los sistemas estudiados en la presente investigación: moléculas de SnX (X=O,S,Se,Te). Para estos casos, es de esperar que el apantallamiento en el átomo de Sn presente correcciones relativistas importantes, debido tanto a la presencia del átomo X como al hecho que el estaño pertenece a la 5a fila de la TP. En el presente trabajo se realizaron cálculos ab-initio relativistas y NR de la constante de apantallamiento en el átomo de Sn y en los del grupo 16 de la TP, los cuales se compararon con resultados indirectos experimentales[1, 2]. Se utilizó el método de propagadores de polarización relativista a nivel RPA para calcular dicha propiedad, y se obtuvieron sus valores en el límite NR. Estos últimos presentan un mejor acuerdo con los valores de referencia. Por ejemplo, en el caso de SnSe, para el Sn el apantallamiento total de referencia es 1291ppm, el cálculo NR da 1002 ppm mientras que el relativista da -6 ppm. En todos los casos se observa que los efectos relativistas son importantes, y que el cálculo del apantallamiento a partir de la constante de espín rotacional solo seria confiable para los casos donde los efectos relativistas no son importantes.
Fil: Maldonado, Alejandro Fabián. Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales y Agrimensura. Departamento de Física; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Nordeste. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica. Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas Naturales y Agrimensura. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica; Argentina
Fil: Aucar, Gustavo Adolfo. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales y Agrimensura. Departamento de Física; Argentina
Fil: Gomez, Sergio Santiago. Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales y Agrimensura. Departamento de Física; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Nordeste. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica. Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas Naturales y Agrimensura. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica; Argentina
93° Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina y XI° Reunión de la Sociedad Uruguaya de Física
Cuidad Autónoma de Buenos Aires
Argentina
Asociación Física Argentina
Sociedad Uruguaya de Física
Materia
APANTALLAMIENTO MAGNÉTICO
SN
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
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Repositorio
CONICET Digital (CONICET)
Institución
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
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Fil: Maldonado, Alejandro Fabián. Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales y Agrimensura. Departamento de Física; Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. Centro Científico Tecnológico Conicet - Nordeste. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica. Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas Naturales y Agrimensura. Instituto de Modelado e Innovación Tecnológica; Argentina
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93° Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina y XI° Reunión de la Sociedad Uruguaya de Física
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