Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral en XeVI y XeVIII
- Autores
- Sarmiento Mercado, Rafael
- Año de publicación
- 1999
- Idioma
- español castellano
- Tipo de recurso
- tesis doctoral
- Estado
- versión publicada
- Colaborador/a o director/a de tesis
- Gallardo, Mario
- Descripción
- Continuando con la línea de trabajo del Grupo de Espectroscopia Atómica del CIOp, la presente Tesis se enmarcó en la investigación de estructuras atómicas de gases nobles mediana y altamente ionizados utilizando las técnicas propias de la espectroscopia óptica de emisión y en la que se presenta un nuevo aporte que permitirá interpretar mejor estos sistemas. El presente trabajo, motivado por mejorar y ampliar el conocimiento existente, está relacionado con el estudio espectral en xenón, particularmente sobre el análisis de transiciones entre configuraciones en los iones cinco veces ionizado (XeVI) y siete veces ionizado ( XeVIII), proporciona información estructural de sus niveles de energía y otros parámetros energéticos, potencial de ionización y parámetros de polarizabilidades del carozo “core” iónico. El interés de suministrar datos espectroscópicos se debe a sus importantes aplicaciones en física del láser, física de plasmas y física de altas temperaturas. Por ejemplo, el estudio de líneas de intercombinación resulta de gran utilidad en el diagnóstico de plasmas confinados y astrofísicos.
- Materia
-
Ciencias Físicas
fuentes espectrales
mecanismos de excitación
átomos multielectrónicos - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Repositorio
- Institución
- Comisión de Investigaciones Científicas de la Provincia de Buenos Aires
- OAI Identificador
- oai:digital.cic.gba.gob.ar:11746/205
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