Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral en XeVI y XeVIII - Sarmiento Mercado, Rafael (1999)
Continuando con la línea de trabajo del Grupo de Espectroscopia Atómica del CIOp, la presente Tesis se enmarcó en la investigación de estructuras atómicas de gases nobles mediana y altamente ionizados utilizando las técnicas propias de la espectroscopia óptica de emisión y en la que se presenta un nuevo aporte que permitirá interpretar mejor estos sistemas. El presente trabajo, motivado por mejorar y ampliar el conocimiento existente, está relacionado con el estudio espectral en xenón, particularmente sobre el análisis de transiciones entre configuraciones en los iones cinco veces ionizado (XeVI) y siete veces ionizado ( XeVIII), proporciona información estructural de sus niveles de energía y otros parámetros energéticos, potencial de ionización y parámetros de polarizabilidades del carozo “core” iónico. El interés de suministrar datos espectroscópicos se debe a sus importantes aplicaciones en física del láser, física de plasmas y física de altas temperaturas. Por ejemplo, el estudio de líneas de intercombinación resulta de gran utilidad en el diagnóstico de plasmas confinados y astrofísicos.