Estudio de una técnica que aplica la espectrometría de rayos X al análisis de aleaciones de estaño-plomo

• Autores: Miniussi, Claudio L.; Meda, Jorge F.; Popovsky, Carlos
• Año de publicación: 1975
• Idioma: español castellano
• Tipo de recurso: artículo
• Materia: Ingeniería de los Materiales; aleaciones binarias; Rayos X; placas pulidas; virutas
• Institución: Comisión de Investigaciones Científicas de la Provincia de Buenos Aires

Se describe una nueva técnica para el análisis de aleaciones binarias por fluorescencia de Rayos X, estudiada en principio para el sistema estaño-plomo. Mediante el uso de la relación de intensidades de los elementos intervinientes se independiza la determinación de la superficie. Ello permite el análisis directamente sobre virutas. Se compara esta técnica con la que utiliza placas pulidas. Se ha encontrado que los parámetros de dispersión, mediante el método descripto, son menores que los obtenidos por el método tradicional (debido a la segregación producida).
A new technique for the analysis of binary alloys by means of X-ray fluorescence is described, as applied to the system tin-lead. Surface determination is avoided making use of intensities ratio of intervening elements. This allows the direct analysis of turnings. The technique is compared with that using po1ishedplates. It has been found that dispersion parameters, on using the method described, are lower than those obtained with the conventional method; this is attributed to segregation.