Lombardi, R. M. A., Palumbo, F., Redin, E. G., Rus, D., & Faigón, A. N. (2000). Carga positiva y estados de interfaz en estructuras MOS irradiadas gamma. Web
Citación estilo ChicagoLombardi, Rina Marta Ana, Félix Palumbo, Eduardo Gabriel Redin, Daniel Rus, and Adrián Néstor Faigón. Carga Positiva Y Estados De Interfaz En Estructuras MOS Irradiadas Gamma. 2000.
Cita MLALombardi, Rina Marta Ana, et al. Carga Positiva Y Estados De Interfaz En Estructuras MOS Irradiadas Gamma. 2000.
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