Propiedades eléctricas y piezorresistivas de resistores de película gruesa

Autores
Boffelli, Daniel José María; Broitman, Esteban Daniel; Zimmerman, Rosa
Año de publicación
1996
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
Los resistores de película gruesa tipo cermet, ajustados por el método convencional de recorte, sufren cambios irreversibles en ciclos sucesivos de deformación. En este trabajo se evalúa la estabilidad de resistores ajustados por irradiación láser. Se estudian la resistencia, coeficiente térmico de resistencia y factor extensométrico de resistores con y sin tratamiento superficial. La superficie irradiada fue caracterizada por espectroscopia Auger
Conventionally trimmed resistors produce unacceptable resistance drift when stressed. The stability of resistors adjusted by laser irradiation is evaluated.. Measurements of resistance, temperature coefficient of resistance and gauge factor are reported for both as-fired and adjusted resistors. Full surface laser irradiated resistors were inspected by AES
Fil: Boffelli, Daniel José María. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física (UBA-FI). Laboratorio de Películas Delgadas. Buenos Aires. Argentina
Fil: Broitman, Esteban Daniel. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física (UBA-FI). Laboratorio de Películas Delgadas. Buenos Aires. Argentina
Fil: Zimmerman, Rosa. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. Departamento de Física (UBA-FI). Laboratorio de Películas Delgadas. Buenos Aires. Argentina
Fuente
An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 1996;01(08):198-200
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
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