Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ

Autores
Onnis, Luciano; Raspa, Verónica Diana; Di Lorenzo, Francisco Javier; Knoblauch, Pablo Tomás
Año de publicación
2008
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
La distribución espectral de la radiación X de alta energia emitida por un Plasma Focus tipo Mather (30 kV, 10.5μF) fue determinada mediante el método de absorción diferencial en muestras metálicas de materiales y espesores diferentes. En el desarrollo de las mediciones cuyos resultados se presentan, el equipo fue operado empleando deuterio dosificado (en volumen) con 2.5 % de argón y 3.5 mbar de presión total. Se emplearon muestras de cobre, níquel, titanio y plata de espesores variables entre 0.1 y 10 mm, según el caso. La radiación X fue detectada mediante una película radiográfica comercial acoplada a un centellador del tipo Lanex (Gd₂O₂S:Tb). Los resultados indican la presencia de un pico dominante en la zona de los 85 keV y componentes espectrales relevantes que se extienden entre los 50 y 150 keV
The spectrum of the hard x-rays emitted by a Mather-type Plasma Focus device (30 kV, 10.5μF) was determined by means of the differential absorption method, using metallic samples of different thicknesses and compositions. The device was operated in deuterium doped with argon (2.5 % by volume) and the total filling pressure was 3.5 mbar. Copper, nickel, titanium and silver samples were employed, with thicknesses between 0.1 and 10 mm. The X-ray radiation was detected using commercial radiographic film coupled with a Lanex (Gd₂O₂S:Tb) intensifying screen. The results show the presence of a dominant peak in around 85 keV and significant spectral components between 50 and 150 keV
Fil: Onnis, Luciano. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA-FCEyN). Departamento de Física. Buenos Aires. Argentina
Fil: Raspa, Verónica Diana. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
Fil: Di Lorenzo, Francisco Javier. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
Fil: Knoblauch, Pablo Tomás. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
Fuente
An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2008;01(20):96-99
Materia
PLASMA FOCUS
RAYOS X DUROS
ESPECTROSCOPIA
PLASMA FOCUS
HARD X-RAYS
SPECTROSCOPY
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
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The spectrum of the hard x-rays emitted by a Mather-type Plasma Focus device (30 kV, 10.5μF) was determined by means of the differential absorption method, using metallic samples of different thicknesses and compositions. The device was operated in deuterium doped with argon (2.5 % by volume) and the total filling pressure was 3.5 mbar. Copper, nickel, titanium and silver samples were employed, with thicknesses between 0.1 and 10 mm. The X-ray radiation was detected using commercial radiographic film coupled with a Lanex (Gd₂O₂S:Tb) intensifying screen. The results show the presence of a dominant peak in around 85 keV and significant spectral components between 50 and 150 keV
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