Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ

Autores
Onnis, Luciano; Raspa, Verónica Diana; Di Lorenzo, Francisco Javier; Knoblauch, Pablo Tomás
Año de publicación
2008
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión publicada
Descripción
La distribución espectral de la radiación X de alta energia emitida por un Plasma Focus tipo Mather (30 kV, 10.5μF) fue determinada mediante el método de absorción diferencial en muestras metálicas de materiales y espesores diferentes. En el desarrollo de las mediciones cuyos resultados se presentan, el equipo fue operado empleando deuterio dosificado (en volumen) con 2.5 % de argón y 3.5 mbar de presión total. Se emplearon muestras de cobre, níquel, titanio y plata de espesores variables entre 0.1 y 10 mm, según el caso. La radiación X fue detectada mediante una película radiográfica comercial acoplada a un centellador del tipo Lanex (Gd₂O₂S:Tb). Los resultados indican la presencia de un pico dominante en la zona de los 85 keV y componentes espectrales relevantes que se extienden entre los 50 y 150 keV
The spectrum of the hard x-rays emitted by a Mather-type Plasma Focus device (30 kV, 10.5μF) was determined by means of the differential absorption method, using metallic samples of different thicknesses and compositions. The device was operated in deuterium doped with argon (2.5 % by volume) and the total filling pressure was 3.5 mbar. Copper, nickel, titanium and silver samples were employed, with thicknesses between 0.1 and 10 mm. The X-ray radiation was detected using commercial radiographic film coupled with a Lanex (Gd₂O₂S:Tb) intensifying screen. The results show the presence of a dominant peak in around 85 keV and significant spectral components between 50 and 150 keV
Fil: Onnis, Luciano. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA-FCEyN). Departamento de Física. Buenos Aires. Argentina
Fil: Raspa, Verónica Diana. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
Fil: Di Lorenzo, Francisco Javier. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
Fil: Knoblauch, Pablo Tomás. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
Fuente
An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2008;01(20):96-99
Materia
PLASMA FOCUS
RAYOS X DUROS
ESPECTROSCOPIA
PLASMA FOCUS
HARD X-RAYS
SPECTROSCOPY
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
Repositorio
Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
Institución
Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
OAI Identificador
afa:afa_v20_n01_p096
Acceder
id BDUBAFCEN_78a840ac821ec59b304df93fa4eca908
oai_identifier_str afa:afa_v20_n01_p096
network_acronym_str BDUBAFCEN
repository_id_str 1896
network_name_str Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
spelling Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJHard X-ray spectroscopy of a 4.7 kJ Plasma FocusOnnis, LucianoRaspa, Verónica DianaDi Lorenzo, Francisco JavierKnoblauch, Pablo TomásPLASMA FOCUSRAYOS X DUROSESPECTROSCOPIAPLASMA FOCUSHARD X-RAYSSPECTROSCOPYLa distribución espectral de la radiación X de alta energia emitida por un Plasma Focus tipo Mather (30 kV, 10.5μF) fue determinada mediante el método de absorción diferencial en muestras metálicas de materiales y espesores diferentes. En el desarrollo de las mediciones cuyos resultados se presentan, el equipo fue operado empleando deuterio dosificado (en volumen) con 2.5 % de argón y 3.5 mbar de presión total. Se emplearon muestras de cobre, níquel, titanio y plata de espesores variables entre 0.1 y 10 mm, según el caso. La radiación X fue detectada mediante una película radiográfica comercial acoplada a un centellador del tipo Lanex (Gd₂O₂S:Tb). Los resultados indican la presencia de un pico dominante en la zona de los 85 keV y componentes espectrales relevantes que se extienden entre los 50 y 150 keVThe spectrum of the hard x-rays emitted by a Mather-type Plasma Focus device (30 kV, 10.5μF) was determined by means of the differential absorption method, using metallic samples of different thicknesses and compositions. The device was operated in deuterium doped with argon (2.5 % by volume) and the total filling pressure was 3.5 mbar. Copper, nickel, titanium and silver samples were employed, with thicknesses between 0.1 and 10 mm. The X-ray radiation was detected using commercial radiographic film coupled with a Lanex (Gd₂O₂S:Tb) intensifying screen. The results show the presence of a dominant peak in around 85 keV and significant spectral components between 50 and 150 keVFil: Onnis, Luciano. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA-FCEyN). Departamento de Física. Buenos Aires. ArgentinaFil: Raspa, Verónica Diana. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. ArgentinaFil: Di Lorenzo, Francisco Javier. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. ArgentinaFil: Knoblauch, Pablo Tomás. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. ArgentinaAsociación Física Argentina2008info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501info:ar-repo/semantics/articuloapplication/pdfhttps://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v20_n01_p096An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2008;01(20):96-99reponame:Biblioteca Digital (UBA-FCEN)instname:Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturalesinstacron:UBA-FCENspainfo:eu-repo/semantics/openAccesshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar2025-10-23T11:15:58Zafa:afa_v20_n01_p096Institucionalhttps://digital.bl.fcen.uba.ar/Universidad públicaNo correspondehttps://digital.bl.fcen.uba.ar/cgi-bin/oaiserver.cgiana@bl.fcen.uba.arArgentinaNo correspondeNo correspondeNo correspondeopendoar:18962025-10-23 11:15:59.133Biblioteca Digital (UBA-FCEN) - Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturalesfalse
dc.title.none.fl_str_mv Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
Hard X-ray spectroscopy of a 4.7 kJ Plasma Focus
title Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
spellingShingle Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
Onnis, Luciano
PLASMA FOCUS
RAYOS X DUROS
ESPECTROSCOPIA
PLASMA FOCUS
HARD X-RAYS
SPECTROSCOPY
title_short Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
title_full Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
title_fullStr Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
title_full_unstemmed Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
title_sort Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
dc.creator.none.fl_str_mv Onnis, Luciano
Raspa, Verónica Diana
Di Lorenzo, Francisco Javier
Knoblauch, Pablo Tomás
author Onnis, Luciano
author_facet Onnis, Luciano
Raspa, Verónica Diana
Di Lorenzo, Francisco Javier
Knoblauch, Pablo Tomás
author_role author
author2 Raspa, Verónica Diana
Di Lorenzo, Francisco Javier
Knoblauch, Pablo Tomás
author2_role author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv PLASMA FOCUS
RAYOS X DUROS
ESPECTROSCOPIA
PLASMA FOCUS
HARD X-RAYS
SPECTROSCOPY
topic PLASMA FOCUS
RAYOS X DUROS
ESPECTROSCOPIA
PLASMA FOCUS
HARD X-RAYS
SPECTROSCOPY
dc.description.none.fl_txt_mv La distribución espectral de la radiación X de alta energia emitida por un Plasma Focus tipo Mather (30 kV, 10.5μF) fue determinada mediante el método de absorción diferencial en muestras metálicas de materiales y espesores diferentes. En el desarrollo de las mediciones cuyos resultados se presentan, el equipo fue operado empleando deuterio dosificado (en volumen) con 2.5 % de argón y 3.5 mbar de presión total. Se emplearon muestras de cobre, níquel, titanio y plata de espesores variables entre 0.1 y 10 mm, según el caso. La radiación X fue detectada mediante una película radiográfica comercial acoplada a un centellador del tipo Lanex (Gd₂O₂S:Tb). Los resultados indican la presencia de un pico dominante en la zona de los 85 keV y componentes espectrales relevantes que se extienden entre los 50 y 150 keV
The spectrum of the hard x-rays emitted by a Mather-type Plasma Focus device (30 kV, 10.5μF) was determined by means of the differential absorption method, using metallic samples of different thicknesses and compositions. The device was operated in deuterium doped with argon (2.5 % by volume) and the total filling pressure was 3.5 mbar. Copper, nickel, titanium and silver samples were employed, with thicknesses between 0.1 and 10 mm. The X-ray radiation was detected using commercial radiographic film coupled with a Lanex (Gd₂O₂S:Tb) intensifying screen. The results show the presence of a dominant peak in around 85 keV and significant spectral components between 50 and 150 keV
Fil: Onnis, Luciano. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA-FCEyN). Departamento de Física. Buenos Aires. Argentina
Fil: Raspa, Verónica Diana. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
Fil: Di Lorenzo, Francisco Javier. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
Fil: Knoblauch, Pablo Tomás. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina
description La distribución espectral de la radiación X de alta energia emitida por un Plasma Focus tipo Mather (30 kV, 10.5μF) fue determinada mediante el método de absorción diferencial en muestras metálicas de materiales y espesores diferentes. En el desarrollo de las mediciones cuyos resultados se presentan, el equipo fue operado empleando deuterio dosificado (en volumen) con 2.5 % de argón y 3.5 mbar de presión total. Se emplearon muestras de cobre, níquel, titanio y plata de espesores variables entre 0.1 y 10 mm, según el caso. La radiación X fue detectada mediante una película radiográfica comercial acoplada a un centellador del tipo Lanex (Gd₂O₂S:Tb). Los resultados indican la presencia de un pico dominante en la zona de los 85 keV y componentes espectrales relevantes que se extienden entre los 50 y 150 keV
publishDate 2008
dc.date.none.fl_str_mv 2008
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
info:ar-repo/semantics/articulo
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v20_n01_p096
url https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v20_n01_p096
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
eu_rights_str_mv openAccess
rights_invalid_str_mv https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Asociación Física Argentina
publisher.none.fl_str_mv Asociación Física Argentina
dc.source.none.fl_str_mv An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2008;01(20):96-99
reponame:Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
instname:Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
instacron:UBA-FCEN
reponame_str Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
collection Biblioteca Digital (UBA-FCEN)
instname_str Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
instacron_str UBA-FCEN
institution UBA-FCEN
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital (UBA-FCEN) - Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
repository.mail.fl_str_mv ana@bl.fcen.uba.ar
_version_ 1846784832247431168
score 12.982451

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