Determinación de orientación y distancia de nanodímeros metálicos

• Autores: Grecco, Hernán Edgardo
• Año de publicación: 2006
• Idioma: español castellano
• Tipo de recurso: tesis doctoral
• Colaborador/a o director/a de tesis: Martínez, Oscar Eduardo
• Materia: MICROSCOPIA; SCATTERING; ACOPLE ELECTROMAGNETICO; NANOPARTICULAS METALICAS; DIMEROS; ORIENTACION; DISTANCIA; REFLEXION TOTAL INTERNA; MICROSCOPY; ELECTROMAGNETIC COUPLING; METALLIC NANOPARTICLES; DIMERS; ORIENTATION; DISTANCE; TOTAL INTERNAL REFLECTION
• Institución: Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales

En la presente tesis se propone una técnica que permite caracterizar un dímero compuesto por nanopartículas metálicas, midiendo su orientación en el plano y la distancia entre las partículas que lo componen. Dado que la información está codificada en la respuesta electromagnética del dímero, no es preciso resolver las partículas individualmente. Se muestra que la sección eficaz de Scattering del dímero depende fuertemente de la polarización de la luz incidente y de la distancia entre las nanopartículas. Se introduce una modificación a un microscopio de reflexión total interna que permite tomar imágenes de la muestra para distintas polarizaciones incidentes. Se implementa conjuntamente una técnica basada en la detección diferencial a dos longitudes de onda que permite distinguir las nanopartículas de otros centros de Scattering. Midiendo distancias por debajo del límite de difracción en dímeros formados por nanopartículas depositadas en vidrio se demuestran la factibilidad de la técnica.
In this thesis a novel technique that is able to characterize single dimers by measuring its orientation and the distance between the nanoparticles is presented. Due to the fact that it is based on the electromagnetic response of the dimer, it is not necessary to optically resolve the individual particles. It is shown that the Scattering cross section of a dimer strongly depends on the incident polarization and on the distance between the nanoparticles. In order to take images of the sample for different incident polarizations, an adaptation to a total internal reflection microscope is presented. In addition, a new technique based on the differential wavelength detection is implemented to make it easier to distinguish nanoparticles from other Scattering centers. Finally, the capability of a technique to measure distances below the diffraction limit for dimers formed by deposition of nanoparticles over glass is demonstrated experimentally.
Fil: Grecco, Hernán Edgardo. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina.