Efectos de radiación ionizante en dispositivos y circuitos MOS

Autores
Lipovetzky, José
Año de publicación
2011
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
En este tutorial se hace una breve revisión de efectos de radiación en dispositivos y circuitos MOS. Se presentan en primer lugar efectos de dosis ionizante total, describiendo los efectos físicos que dan lugar a la modificación de características eléctricas de los dispositivos y como esa modificación puede afectar el comportamiento de circuitos en tecnologías modernas. Se presenta cómo las modificaciones eléctricas en los dispositivos pueden ser aprovechados para construir sensores en un dosímetro de radiación ionizante. Finalmente se presentan efectos puntuales en el funcionamiento de circuitos causados por el paso de una única partícula.
Sección: Tutoriales – Resúmenes
Centro de Técnicas Analógico-Digitales
Materia
Ingeniería
Tecnologías CMOS
Radiación ionizante
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
Repositorio
SEDICI (UNLP)
Institución
Universidad Nacional de La Plata
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