Seré, P. R., Deyá, M. C., Zerbino, J. O., Maltz, A. L., Elsner, C. I., & Di Sarli, A. R. (2013). Estructura de películas de silanos depositadas sobre acero y vidrio analizadas por elipsometría a diferentes longitudes de onda y ángulos de incidencia. Web
Citación estilo ChicagoSeré, Pablo Ricardo, Marta Cecilia Deyá, Jorge Omar Zerbino, Alberto Leonardo Maltz, Cecilia Inés Elsner, and Alejandro Ramón Di Sarli. Estructura De Películas De Silanos Depositadas Sobre Acero Y Vidrio Analizadas Por Elipsometría a Diferentes Longitudes De Onda Y ángulos De Incidencia. 2013.
Cita MLASeré, Pablo Ricardo, et al. Estructura De Películas De Silanos Depositadas Sobre Acero Y Vidrio Analizadas Por Elipsometría a Diferentes Longitudes De Onda Y ángulos De Incidencia. 2013.