Yáñez, M. J., Avila, A. J., Gutiérrez Ayesta, C., & Ercoli, D. (2022). Evaluación superficial de laminados impresos mediante microscopía electrónica de barrido (SEM). Web
Citación estilo ChicagoYáñez, M. J., A. J. Avila, C. Gutiérrez Ayesta, and D. Ercoli. Evaluación Superficial De Laminados Impresos Mediante Microscopía Electrónica De Barrido (SEM). 2022.
Cita MLAYáñez, M. J., A. J. Avila, C. Gutiérrez Ayesta, and D. Ercoli. Evaluación Superficial De Laminados Impresos Mediante Microscopía Electrónica De Barrido (SEM). 2022.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.