Sánchez, E. Y., Represa, S., Mellado, D., Balbi, K. B., Acquesta, A. D., Colman Lerner, J. E., & Porta, A. A. (2018). Risk analysis of technological hazards: Simulation of scenarios and application of a local vulnerability index. Web
Citación estilo ChicagoSánchez, E. Y., S. Represa, D. Mellado, K. B. Balbi, Alejandro Dante Acquesta, J. E. Colman Lerner, and A. A. Porta. Risk Analysis of Technological Hazards: Simulation of Scenarios and Application of a Local Vulnerability Index. 2018.
Cita MLASánchez, E. Y., et al. Risk Analysis of Technological Hazards: Simulation of Scenarios and Application of a Local Vulnerability Index. 2018.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.