Sistema de ablación láser Excimer Analyte G2 193 de pulso ultracorto: Análisis de las características y principios físicos fundamentales.

• Autores: López, Faustino A.
• Año de publicación: 2018
• Idioma: español castellano
• Tipo de recurso: informe técnico
• Materia: geoquímica; dato; geocronología isotópica; espectrometría; masa; ion; ablación láser; LA; ICP; MS
• Institución: Servicio Geológico Minero Argentino

Fil: López, Faustino A. Servicio Geológico Minero Argentino. Instituto de Tecnología Minera; Argentina.
Durante años la geocronología isotópica utilizó técnicas de espectrometría de masas por iones secundarios (SIMS) y su posterior mejora de alta resolución. Estas técnicas permitieron las primeras mediciones no destructivas y localizadas en muestras sólidas de pequeñas dimensiones (de unas pocas decenas de micrones) excitando y extrayendo los isótopos superficiales por medio de interacciones electrostáticas con un haz de iones. Actualmente el método de espectrometría de masas por iones secundarios de alta resolución sigue siendo el más preciso, pero el avance en la tecnología láser permitió el desarrollo de una nueva técnica que volatiliza un pequeño volumen de la muestra mediante radiación láser. Este proceso se denomina ablación láser (LA) y se utiliza en conjunto con la técnica de análisis inorgánico de Espectrometría de Masas con Plasma Acoplado Inductivamente (ICP-MS) para la obtención y medición de isótopos ionizados, unión que finalmente se denomina LA-ICP-MS. La adaptación del método de ablación láser en el uso de la geocronología fue retrasada en los 90’ debido a problemas de fraccionamiento elemental e isotópico. Actualmente, para resolver estos problemas, se requiere la verificación constante de la calibración del equipo entre mediciones por medio del uso de estándares [1]. Cabe destacar que aunque la técnica SIMS de alta resolución siga siendo la más precisa, los dispositivos LA-ICP-MS son más veloces en realizar una medición (aproximadamente en un factor 20, dependiendo el modelo), son más económicos y también logran una resolución espacial del orden de los micrones. Otro de los factores a tener en cuenta en esta comparación es la diferencia en la cantidad de masa de la muestra requerida en cada método, siendo hasta 100 veces mayor el requisito en LA-ICP-MS respecto a SIMS. Aunque este es un punto a favor de la técnica SIMS, el avance en la tecnología láser, óptica iónica y técnicas de ionización, van camino a reducir esta diferencia.