Tais, C. E., Peretti, G. M., Romero, E. A., & Demarco, G. L. (2017). Impacto de la consideración de la compuerta en los efectos termoelásticos observados en transistores de potencia durante un proceso de quemado por evento único. Web
Citación estilo ChicagoTais, Carlos Esteban, Gabriela Marta Peretti, Eduardo Abel Romero, and Gustavo Luis Demarco. Impacto De La Consideración De La Compuerta En Los Efectos Termoelásticos Observados En Transistores De Potencia Durante Un Proceso De Quemado Por Evento único. 2017.
Cita MLATais, Carlos Esteban, Gabriela Marta Peretti, Eduardo Abel Romero, and Gustavo Luis Demarco. Impacto De La Consideración De La Compuerta En Los Efectos Termoelásticos Observados En Transistores De Potencia Durante Un Proceso De Quemado Por Evento único. 2017.