Evaluation of a Commercial Off The Shelf CMOS Image Sensor for X-ray spectroscopy up to 24.9 keV
- Autores
- Pérez, M.; Sofo Haro, M.; Lipovetzky, J.; Cicuttin, A.; Crespo, M.L.; Alcade Bessia, F.; Gómez Berisso, M.; Blostein, J.J.
- Año de publicación
- 2020
- Idioma
- español castellano
- Tipo de recurso
- artículo
- Estado
- versión aceptada
- Descripción
- Fil: Pérez, M. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina
Fil: Sofo Haro, M. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina
Fil: Lipovetzky, J. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Alcade Bessia, F. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Gómez Berisso, M. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Blostein, J.J. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Cicuttin, A. The Abdus Salam International Centre for Theoretical Physic; Italia
Fil: Crespo, M.L. The Abdus Salam International Centre for Theoretical Physic; Italia - Materia
-
CIRCUITOS CMOS
ESPECTROSCOPIA
CMOS
Image sensors
X-rays
Spectroscopy - Nivel de accesibilidad
- acceso abierto
- Condiciones de uso
- Repositorio
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- Institución
- Comisión Nacional de Energía Atómica
- OAI Identificador
- oai:nuclea.cnea.gob.ar:20.500.12553/5371
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