Determinación de textura cristalográfica mediante difracción de Rayos X

Autores
Acuña, R. J.; Hermida, Jorge Daniel; Ortiz Albuixech, María
Año de publicación
1980
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión aceptada
Descripción
Fil: Acuña, R. J. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Hermida, Jorge Daniel Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Ortiz Albuixech, María Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina
Materia
MATERIALES
CIRCALOY
ENSAYOS (MATERIALES)
CRISTALOGRAFÍA
DIFRACCIÓN (RAYOS-X)
MATERIALS
ZIRCALOY
TESTING (MATERIALS)
CRYSTALLOGRAPHY
DIFFRACTION (X-RAY)
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
Repositorio
Nuclea (CNEA)
Institución
Comisión Nacional de Energía Atómica
OAI Identificador
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