Ion implantation inducing two-way shape memory effect in Cu-Al-Ni thin films

Autores
Morán M.,Condó A. M. ,Suarez S. ,Soldera F., Haberkorn N.
Año de publicación
2019
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
artículo
Estado
versión aceptada
Descripción
Fil: Morán, M. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Condó, A. M. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Suarez, S. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Haberkorn, N. Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto Balseiro; Argentina; Universidad Nacional de Cuyo; Argentina; Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina
Fil: Soldera, F. Saarland University; Alemania
Materia
CAPAS FINAS
IRRADIACION
Thin films
Irradiation
Shape memory alloys
Cu-Al-Ni
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
Repositorio
Nuclea (CNEA)
Institución
Comisión Nacional de Energía Atómica
OAI Identificador
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